学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
一种用于电容批量老化的电容状态在线测试装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202011489928.2
申请日
:
2020-12-16
公开(公告)号
:
CN112595999A
公开(公告)日
:
2021-04-02
发明(设计)人
:
高敬一
申请人
:
申请人地址
:
214000 江苏省无锡市新区泰山路2号国际科技合作园C楼E-4座
IPC主分类号
:
G01R3164
IPC分类号
:
G01R3152
G01R3154
代理机构
:
南京北辰联和知识产权代理有限公司 32350
代理人
:
王俊
法律状态
:
公开
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-04-02
公开
公开
2021-04-23
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/64 申请日:20201216
共 50 条
[1]
一种用于电容批量老化的电容状态在线测试装置
[P].
高敬一
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
江苏伊施德创新科技有限公司
江苏伊施德创新科技有限公司
高敬一
.
中国专利
:CN112595999B
,2025-05-16
[2]
一种用于电容批量老化的电容状态在线测试装置
[P].
高敬一
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高敬一
.
中国专利
:CN215067225U
,2021-12-07
[3]
一种电容测试装置
[P].
郑金龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郑金龙
.
中国专利
:CN203798938U
,2014-08-27
[4]
一种电容测试装置
[P].
刘江涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘江涛
;
鲜飞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
鲜飞
;
沈应龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
沈应龙
;
郑治桢
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郑治桢
.
中国专利
:CN204945288U
,2016-01-06
[5]
一种电容漏电流批量测试装置
[P].
高敬一
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
高敬一
;
杨晔
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨晔
.
中国专利
:CN213581301U
,2021-06-29
[6]
一种电容器电容量在线测试装置
[P].
陈一潇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈一潇
;
李冰阳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李冰阳
;
陈志刚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈志刚
;
包宇喆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
包宇喆
;
张延辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张延辉
;
赵勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
赵勇
;
刘真
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘真
;
何艾容
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
何艾容
;
唐琪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
唐琪
;
周帆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
周帆
;
梁留欢
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
梁留欢
;
李林聪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李林聪
;
陈嵩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈嵩
;
杨刚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨刚
;
殷雪峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
殷雪峰
;
白永锐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
白永锐
;
唐静雅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
唐静雅
;
谷志刚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
谷志刚
.
中国专利
:CN216449658U
,2022-05-06
[7]
一种电容器电容量在线测试装置
[P].
陈一潇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈一潇
;
李冰阳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李冰阳
;
陈志刚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈志刚
;
包宇喆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
包宇喆
;
张延辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张延辉
;
赵勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
赵勇
;
刘真
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘真
;
何艾容
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
何艾容
;
唐琪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
唐琪
;
梁留欢
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
梁留欢
;
周帆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
周帆
;
陈嵩
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈嵩
;
李林聪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李林聪
;
杨刚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨刚
;
殷雪峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
殷雪峰
;
白永锐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
白永锐
;
唐静雅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
唐静雅
;
谷志刚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
谷志刚
.
中国专利
:CN114167143A
,2022-03-11
[8]
一种锂电容老化测试装置
[P].
汤红彬
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
汤红彬
;
丁佳佳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
丁佳佳
;
许检红
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
许检红
;
姜汉兵
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
姜汉兵
;
邵国柱
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邵国柱
;
吴玲丽
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴玲丽
.
中国专利
:CN110308360A
,2019-10-08
[9]
一种大批量电容的高速测试装置
[P].
熊焰明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
熊焰明
.
中国专利
:CN217774870U
,2022-11-11
[10]
电容测试装置
[P].
叶家维
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
叶家维
;
邱奕豪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邱奕豪
;
张仕勋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张仕勋
;
黄军卫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄军卫
;
王耀南
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王耀南
.
中国专利
:CN112379186A
,2021-02-19
←
1
2
3
4
5
→