用于在CT成像系统中使用的检测器组件

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710276245.0

申请日：

2017-04-25

公开(公告)号：

CN107303185A

公开(公告)日：

2017-10-31

发明(设计)人：

B.L.伯尔斯 S.K.巴苏

申请人：

申请人地址：

美国加利福尼亚州

IPC主分类号：

A61B603

IPC分类号：

A61B600

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司 72001

代理人：

周学斌;郑冀之

法律状态：

专利申请权、专利权的转移

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-01-11	专利申请权、专利权的转移	专利申请权的转移 IPC(主分类):A61B 6/03 登记生效日:20211230 变更事项:申请人变更前权利人:史密斯探测有限责任公司变更后权利人:史密斯探测公司变更事项:地址变更前权利人:美国加利福尼亚州变更后权利人:美国马里兰州
2019-03-01	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):A61B 6/03 申请日:20170425
2022-01-11	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):A61B 6/03 变更事项:申请人变更前:莫福探测仪器有限责任公司变更后:史密斯探测有限责任公司变更事项:地址变更前:美国加利福尼亚州变更后:美国加利福尼亚州
2017-10-31	公开	公开

共 50 条

[1]

用于在多模态成像系统中使用的CT系统 [P].

Y·金格曼 .

中国专利 :CN102727238A ,2012-10-17

[2]

用于在带电粒子设备中使用的检测器 [P].

C.S.库伊曼 ;

G.N.A.范维恩 .

中国专利 :CN102866413B ,2013-01-09

[3]

CT系统和用于CT系统的检测器组件 [P].

J.莱西 .

中国专利 :CN205672033U ,2016-11-09

[4]

用于在成像中使用的系统和方法 [P].

泽埃夫·扎列夫斯基 ;

多伦·阿夫拉罕 ;

约西·达南 .

中国专利 :CN113366343A ,2021-09-07

[5]

光谱成像检测器 [P].

R·A·马特森 ;

R·P·卢赫塔 ;

M·A·查波 .

中国专利 :CN105044758B ,2015-11-11

[6]

光谱成像检测器 [P].

R·A·马特森 ;

R·P·卢赫塔 ;

M·A·查波 .

中国专利 :CN102216806A ,2011-10-12

[7]

使用可独立控制检测器的成像系统 [P].

G.科瓦尔斯基 ;

J-P.布尼克 ;

J.萨赫斯 ;

Y.格罗布什泰因 ;

Y.青格曼 ;

A.艾什科 ;

Y.赫菲茨 .

中国专利 :CN105813570A ,2016-07-27

[8]

用于成像系统的光电检测器 [P].

纪凡 ;

米科·云图宁 ;

伊罗·希耶塔宁 .

中国专利 :CN102318063B ,2012-01-11

[9]

用于成像系统的无源检测器 [P].

霍华德·E·卡彭特 ;

彼得·N·考夫曼 .

中国专利 :CN104040725B ,2014-09-10

[10]

具有光遮罩层的CT检测器 [P].

阿卜杜拉齐兹·伊克莱弗 ;

格雷戈里·S·泽曼 ;

乔治·E·波辛 ;

李文 .

中国专利 :CN100459937C ,2005-07-27

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