设备的测试方法、相关的测试工具及测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310342626.6

申请日：

2013-08-08

公开(公告)号：

CN103577295A

公开(公告)日：

2014-02-12

发明(设计)人：

B·克鲁泽 P·莫尔勒

申请人：

申请人地址：

法国图卢兹

IPC主分类号：

G06F1126

IPC分类号：

代理机构：

中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038

代理人：

郭思宇

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-07-24	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G06F 11/26 申请日:20130808 授权公告日:20171024 终止日期:20190808
2017-10-24	授权	授权
2015-09-09	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101624611095 IPC(主分类):G06F 11/26 专利申请号:2013103426266 申请日:20130808
2014-02-12	公开	公开

共 50 条

[1]

测试工具、测试系统及测试方法 [P].

韩慧 ;

荣高峰 .

中国专利 :CN119806110A ,2025-04-11

[2]

测试工具板及测试系统 [P].

蒙泽昌 .

中国专利 :CN118427023A ,2024-08-02

[3]

基于测试工具的测试方法和测试工具 [P].

党春艳 ;

陈立桅 .

中国专利 :CN108512710B ,2018-09-07

[4]

测试系统的测试工具载入及管理方法 [P].

刘一波 ;

陈玄同 ;

林光信 .

中国专利 :CN1369787A ,2002-09-18

[5]

测试工具的延长测试探头及测试工具 [P].

邹玉生 .

中国专利 :CN211374847U ,2020-08-28

[6]

低温衰减测试合格光纤、测试方法、测试工具及测试系统 [P].

段小华 ;

喻煌 ;

田林伟 ;

吕净宇 .

中国专利 :CN115420466A ,2022-12-02

[7]

低温衰减测试合格光纤、测试方法、测试工具及测试系统 [P].

段小华 ;

喻煌 ;

田林伟 ;

吕净宇 .

中国专利 :CN115420466B ,2025-06-27

[8]

测试工装和测试系统 [P].

王仑 ;

郝东升 .

中国专利 :CN211698099U ,2020-10-16

[9]

测试工具的生成方法、测试方法、装置、设备及介质 [P].

朱翔博 .

中国专利 :CN117435503A ,2024-01-23

[10]

电子设备测试装置的通用测试工装及其测试方法 [P].

马彦恒 ;

李刚 ;

尹园威 ;

刘新海 .

中国专利 :CN106019021B ,2016-10-12

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