一种薄膜开关电阻测试装置

被引:0
申请号
CN202123447230.7
申请日
2021-12-31
公开(公告)号
CN217181059U
公开(公告)日
2022-08-12
发明(设计)人
凌舞 金林升
申请人
申请人地址
312000 浙江省绍兴市袍江新区荷湖路3号7幢
IPC主分类号
G01R2702
IPC分类号
G01R31327
代理机构
北京维正专利代理有限公司 11508
代理人
冯彬
法律状态
授权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
一种薄膜开关功能测试装置 [P]. 
凌舞 ;
金林升 .
中国专利 :CN217181149U ,2022-08-12
[2]
一种薄膜开关按键疲劳测试装置 [P]. 
李成云 .
中国专利 :CN223122489U ,2025-07-18
[3]
键盘薄膜开关测试装置 [P]. 
熊杰 .
中国专利 :CN222087491U ,2024-11-29
[4]
一种柔性薄膜开关耐高温测试装置 [P]. 
王行松 ;
吕玉俊 ;
成学思 .
中国专利 :CN218383187U ,2023-01-24
[5]
耐压薄膜开关抗压测试装置 [P]. 
周丹峰 .
中国专利 :CN220438004U ,2024-02-02
[6]
一种薄膜开关敲击力测试装置 [P]. 
丁秀琴 ;
张勰军 ;
卢俊生 ;
吴磊 ;
邱泽安 .
中国专利 :CN215374311U ,2021-12-31
[7]
一种薄膜开关面板寿命测试装置 [P]. 
徐秀旺 .
中国专利 :CN211504593U ,2020-09-15
[8]
键盘薄膜开关测试装置及测试方法 [P]. 
熊杰 .
中国专利 :CN118225569A ,2024-06-21
[9]
薄膜开关面板按键力度测试装置 [P]. 
徐秀旺 .
中国专利 :CN211374037U ,2020-08-28
[10]
一种薄膜开关面板寿命的测试装置 [P]. 
陈文君 ;
黎梁 .
中国专利 :CN214844562U ,2021-11-23