一种表面粗糙度仪支架及表面粗糙度测量装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201920139397.0

申请日：

2019-01-25

公开(公告)号：

CN209485249U

公开(公告)日：

2019-10-11

发明(设计)人：

温树彬郑锦标张振陈建立孙东辰陈冬梅

申请人：

申请人地址：

528000 广东省佛山市三水区乐平镇职教路3号佛山职业技术学院

IPC主分类号：

G01B528

IPC分类号：

代理机构：

广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205

代理人：

王国标

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-10-11	授权	授权

共 50 条

[1]

一种表面粗糙度仪支架及表面粗糙度测量装置 [P].

温树彬 ;

郑锦标 ;

张振 ;

陈建立 ;

孙东辰 ;

陈冬梅 .

中国专利 :CN109668501A ,2019-04-23

[2]

一种表面粗糙度仪支架及表面粗糙度测量装置 [P].

程臻君 ;

陈弘毅 ;

张欢 ;

王冉 .

中国专利 :CN215060896U ,2021-12-07

[3]

表面粗糙度测量辅助支架以及表面粗糙度测量系统 [P].

韩朝 ;

邓郴 ;

孙超 ;

王艺娜 ;

张正 ;

申开颜 ;

苏华运 ;

尹士平 ;

唐莉 ;

高静 .

中国专利 :CN223076664U ,2025-07-08

[4]

一种表面粗糙度测量装置 [P].

周昀 ;

陈立敏 .

中国专利 :CN206056564U ,2017-03-29

[5]

表面粗糙度测量仪 [P].

石岩 ;

雷彬 ;

石敬谊 ;

雷亮 .

中国专利 :CN2689168Y ,2005-03-30

[6]

一种表面粗糙度测量装置 [P].

周昀 ;

陈立敏 .

中国专利 :CN106289152A ,2017-01-04

[7]

表面粗糙度测量 [P].

瓦达克·马萨姆·穆鲁克山 ;

帕坦哈雷坎迪·普拉巴坦 ;

安思文·哈瑞达斯 ;

普尔基特·卡普尔 ;

比拉尔·M·纳塞尔 ;

凯尔文·H·K·陈 .

中国专利 :CN111412868A ,2020-07-14

[8]

表面粗糙度仪 [P].

杨庆德 ;

邓博 ;

周林 .

中国专利 :CN302930262S ,2014-09-03

[9]

表面粗糙度测量仪 [P].

水野哲 .

中国专利 :CN1005790B ,1987-01-07

[10]

一种销孔表面粗糙度测量装置 [P].

郭鹏 .

中国专利 :CN222481459U ,2025-02-14

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