光学测量装置和光学测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910144958.0

申请日：

2019-02-27

公开(公告)号：

CN110231299A

公开(公告)日：

2019-09-13

发明(设计)人：

堀田和希河田阳一中西笃司藤田和上高桥宏典里园浩

申请人：

申请人地址：

日本静冈县

IPC主分类号：

G01N213581

IPC分类号：

G01N2135

代理机构：

北京尚诚知识产权代理有限公司 11322

代理人：

杨琦;尹明花

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-11-24	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/3581 申请日:20190227
2019-09-13	公开	公开

共 50 条

[1]

光学测量装置和光学测量方法 [P].

今泉良一 ;

谷口一郎 .

中国专利 :CN111795642A ,2020-10-20

[2]

光学测量装置和光学测量方法 [P].

峰邑浩行 ;

大泽贤太郎 .

中国专利 :CN105973845A ,2016-09-28

[3]

光学测量装置和光学测量方法 [P].

濱田基明 .

中国专利 :CN102565005A ,2012-07-11

[4]

光学测量装置和光学测量方法 [P].

郑媛 ;

陈大志 .

中国专利 :CN102654465A ,2012-09-05

[5]

光学测量装置和光学测量方法 [P].

今泉良一 ;

谷口一郎 .

日本专利 :CN111795642B ,2024-06-18

[6]

光学测量装置和光学测量方法 [P].

铃木俊平 ;

今西慎吾 ;

桥本学治 ;

堂胁优 .

中国专利 :CN102192872B ,2011-09-21

[7]

光学测量装置和光学测量方法 [P].

陈大志 ;

郑媛 ;

孙晓伟 ;

史伟杰 .

中国专利 :CN102645437A ,2012-08-22

[8]

光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P].

张健 ;

臧笑妍 ;

孙建超 ;

庄源 .

中国专利 :CN120445042A ,2025-08-08

[9]

光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P].

徐添财 .

中国专利 :CN103293157A ,2013-09-11

[10]

光学测量装置及光学测量方法 [P].

高堉墐 ;

刘朝辉 ;

郑伊凯 ;

王世昌 ;

王大祥 .

中国专利 :CN103792190B ,2014-05-14

← 1 2 3 4 5 →