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用于密度天平的辅助进样装置以及密度天平
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202120538182.3
申请日：
2021-03-15
公开(公告)号：
CN214539659U
公开(公告)日：
2021-10-29
发明(设计)人：
潘斐
许越超
姚杰
申请人：
申请人地址：
213000 江苏省常州市常州新北区春江镇圩塘综合工业园
IPC主分类号：
G01N3510
IPC分类号：
G01N900
代理机构：
北京景闻知识产权代理有限公司 11742
代理人：
常鹏
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2021-10-29 | 授权 | 授权 |