测试装置及测试设备

被引：0

申请号：

CN202220741779.2

申请日：

2022-03-31

公开(公告)号：

CN217213032U

公开(公告)日：

2022-08-16

发明(设计)人：

黄亮汪兴友金圆刘龑黄龙

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区福海街道新田社区新塘路44-1号101

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R1067 G01R1073 G01R1302

代理机构：

广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205

代理人：

张英凤

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-16	授权	授权

共 50 条

[1]

测试装置及测试设备 [P].

黄亮 ;

汪兴友 ;

金圆 ;

刘龑 ;

黄龙 .

中国专利 :CN114675166A ,2022-06-28

[2]

测试装置及测试设备 [P].

成纯森 ;

丁细超 ;

李宗政 .

中国专利 :CN213121060U ,2021-05-04

[3]

测试装置及测试设备 [P].

任富佳 ;

艾灵儿 ;

顾明峰 ;

周小虎 .

中国专利 :CN209841385U ,2019-12-24

[4]

导线测试设备及测试装置 [P].

黄骏天 .

中国专利 :CN214375203U ,2021-10-08

[5]

测试头、测试装置及芯片测试设备 [P].

龚才 .

中国专利 :CN208872815U ,2019-05-17

[6]

测试装置及测试设备 [P].

袁文强 ;

辛强 ;

廖远明 ;

王德斌 ;

易俊 ;

刘祎晗 ;

闵新和 ;

唐之潇 ;

周倩瑶 .

中国专利 :CN221883056U ,2024-10-22

[7]

测试装置及测试设备 [P].

陈永平 ;

任明海 ;

陈凯涛 .

中国专利 :CN223259135U ,2025-08-22

[8]

测试装置及测试设备 [P].

孙家彬 ;

方叙睿 .

中国专利 :CN119104753A ,2024-12-10

[9]

测试装置及测试设备 [P].

谢树发 .

中国专利 :CN222353761U ,2025-01-14

[10]

闪存芯片测试装置及测试设备 [P].

覃义平 .

中国专利 :CN220290465U ,2024-01-02

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