使用带电粒子显微镜检查样品的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010362677.5

申请日：

2020-04-30

公开(公告)号：

CN111896572A

公开(公告)日：

2020-11-06

发明(设计)人：

J.克卢萨切克 T.图玛 J.佩特热克

申请人：

申请人地址：

美国俄勒冈州

IPC主分类号：

G01N232251

IPC分类号：

G01N232252 G01N232254 G01N232255 G01N232257 G01N232206 G01N2320091 G01N23205 G01N23203 G01N232055 G01N2320 G01N23046 G01N23041

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司 72001

代理人：

张凌苗;申屠伟进

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

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共 50 条

[1]

使用带电粒子显微镜检查样品的方法 [P].

T.图玛 ;

J.赫拉迪尔 ;

P.赫拉文卡 .

中国专利 :CN110849926A ,2020-02-28

[2]

使用带电粒子显微镜检查样品的方法 [P].

T.图玛 ;

J.赫拉迪尔 ;

P.赫拉文卡 .

美国专利 :CN110849926B ,2025-02-14

[3]

使用带电粒子显微镜检查样品的方法 [P].

J.克卢萨切克 ;

T.图玛 ;

J.彼得雷克 .

中国专利 :CN112098440A ,2020-12-18

[4]

使用带电粒子显微镜检查样品的方法 [P].

J.克卢萨切克 ;

T.图玛 ;

J.彼得雷克 .

美国专利 :CN112098440B ,2024-08-13

[5]

使用带电粒子显微镜检查样品的方法 [P].

J.克卢萨切克 ;

T.图玛 ;

J.佩特热克 .

美国专利 :CN111896572B ,2024-12-17

[6]

使用带电粒子显微镜检查样品的方法 [P].

T·图玛 ;

J·克卢萨切克 ;

J·派特雷克 .

中国专利 :CN112394076A ,2021-02-23

[7]

使用带电粒子显微镜检查样品的方法 [P].

J.克卢萨切克 ;

T.图玛 .

中国专利 :CN111982938A ,2020-11-24

[8]

使用带电粒子显微镜检查样品的方法 [P].

J.克卢萨切克 ;

T.图玛 .

美国专利 :CN111982938B ,2024-06-04

[9]

使用带电粒子显微镜检查样品的方法 [P].

J·克卢塞克 ;

P·赫拉文卡 ;

M·瓦纳特卡 ;

O·瓦维尔卡 .

美国专利 :CN117438268A ,2024-01-23

[10]

使用带电粒子显微镜检查样品的方法 [P].

J.克卢萨切克 ;

T.图玛 .

美国专利 :CN111982938B9 ,2024-07-02

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/2251 申请日:20200430
2020-11-06	公开	公开