颗粒物浓度测量装置及测量方法

被引：0

申请号：

CN202210070715.9

申请日：

2022-01-21

公开(公告)号：

CN114414448A

公开(公告)日：

2022-04-29

发明(设计)人：

杨奕孙可心彭嘉辉曾飞雄于锋礼

申请人：

申请人地址：

201210 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区张杨路25号

IPC主分类号：

G01N1506

IPC分类号：

代理机构：

上海专利商标事务所有限公司 31100

代理人：

茅翊忞

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-29	公开	公开
2022-05-20	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 15/06 申请日:20220121

共 50 条

[1]

颗粒物浓度测量装置及测量方法 [P].

杨奕 ;

孙可心 ;

彭嘉辉 ;

曾飞雄 ;

于锋礼 .

中国专利 :CN114414448B ,2024-03-05

[2]

颗粒物浓度的测量方法及装置 [P].

胡扬俊 ;

华道柱 ;

黄伟 ;

叶华俊 .

中国专利 :CN106769731B ,2017-05-31

[3]

颗粒物测量装置及测量方法 [P].

朱慧珑 .

中国专利 :CN104792671A ,2015-07-22

[4]

流速以及颗粒物浓度测量系统及其测量方法 [P].

刘军嵘 .

中国专利 :CN102749474A ,2012-10-24

[5]

光学流速颗粒物浓度测量方法及装置 [P].

刘文清 ;

张玉钧 ;

陆亦怀 ;

刘建国 ;

曾宗泳 ;

刘和来 ;

江宇 ;

詹锴 ;

方武 .

中国专利 :CN1959373A ,2007-05-09

[6]

测量颗粒物浓度的方法及测量装置 [P].

刘丹丹 ;

汤春瑞 ;

曹亚迪 ;

郝文亮 .

中国专利 :CN110779838A ,2020-02-11

[7]

纳米颗粒物计数浓度测量方法和测量装置 [P].

周斌 .

中国专利 :CN102890045A ,2013-01-23

[8]

一种颗粒物浓度测量方法及装置 [P].

熊友辉 ;

何涛 ;

李少勇 ;

杨伟 .

中国专利 :CN110530766B ,2019-12-03

[9]

光散射装置、颗粒物浓度测量系统和测量方法 [P].

敖小强 ;

李永帅 ;

陈景卫 .

中国专利 :CN109655388A ,2019-04-19

[10]

气体颗粒物测量方法及装置 [P].

尚祥 ;

夏海云 ;

窦贤康 ;

上官明佳 ;

王冲 ;

裘家伟 .

中国专利 :CN107478555A ,2017-12-15

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