使用堆叠晶片技术的基于纳米孔的测序芯片

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201580010450.1

申请日：

2015-03-11

公开(公告)号：

CN106029897A

公开(公告)日：

2016-10-12

发明(设计)人：

H.田

申请人：

申请人地址：

美国加利福尼亚州

IPC主分类号：

C12Q100

IPC分类号：

C12Q168 C12M134

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司 72001

代理人：

申屠伟进;刘春元

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-10-12	公开	公开
2020-03-03	授权	授权
2016-11-09	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101686887243 IPC(主分类):C12Q 1/00 专利申请号:2015800104501 申请日:20150311

共 50 条

[1]

基于固态纳米孔阵列的测序芯片 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN216129606U ,2022-03-25

[2]

基于固态纳米孔阵列的测序芯片及其制备方法 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN115125132A ,2022-09-30

[3]

硅基纳米孔阵列测序芯片 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN215050354U ,2021-12-07

[4]

导出纳米孔阵列的测量结果的方法以及测序芯片 [P].

R.J.A.陈 ;

H.田 ;

S.弗南德斯-戈梅斯 .

中国专利 :CN107077539B ,2017-08-18

[5]

测序芯片的制备方法及测序芯片、测序仪 [P].

陈家诚 .

中国专利 :CN110964793A ,2020-04-07

[6]

硅基纳米孔阵列测序芯片及其制备方法 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN115141750A ,2022-10-04

[7]

用于纳米孔测序的集成电路和流动池的多芯片包装 [P].

Y.米特尼克 ;

X.欧阳 ;

J.沃吉托维奇 .

中国专利 :CN109844528A ,2019-06-04

[8]

测序芯片的制备方法 [P].

蒋析文 ;

莫君勇 ;

杨明亮 ;

刘世林 ;

佟瑶 ;

易阳萍 .

中国专利 :CN118048444A ,2024-05-17

[9]

用于NGS测序的线性化方法、测序芯片以及测序方法 [P].

刘二凯 ;

玄曙光 ;

陆永艺 ;

徐杰成 .

中国专利 :CN119685462A ,2025-03-25

[10]

用于NGS测序的线性化方法、测序芯片以及测序方法 [P].

刘二凯 ;

陆永艺 ;

玄曙光 ;

徐杰成 .

中国专利 :CN119876360A ,2025-04-25

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