吸附结构及芯片检测装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202121405645.5
申请日
2021-06-23
公开(公告)号
CN215665867U
公开(公告)日
2022-01-28
发明(设计)人
冯利民 张磊
申请人
申请人地址
215000 江苏省苏州市苏州工业园区青丘巷8号
IPC主分类号
B65G4791
IPC分类号
G01R3128
代理机构
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人
何冲
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
吸附装置及芯片检测设备 [P]. 
冯利民 ;
杨胜利 .
中国专利 :CN215665866U ,2022-01-28
[2]
吸附结构及芯片检测设备 [P]. 
冯利民 ;
史赛 .
中国专利 :CN212965037U ,2021-04-13
[3]
吸附装置及芯片检测设备 [P]. 
冯利民 ;
史赛 .
中国专利 :CN215973905U ,2022-03-08
[4]
芯片检测置物盒及芯片检测装置 [P]. 
黄然 ;
江逸夫 ;
王聪 .
中国专利 :CN214844849U ,2021-11-23
[5]
芯片检测取放料装置及芯片检测设备 [P]. 
许洪祎 ;
汪杰 .
中国专利 :CN218370419U ,2023-01-24
[6]
影像检测装置及芯片检测系统 [P]. 
林广满 ;
陈林山 ;
王建勇 ;
范聚吉 .
中国专利 :CN215894403U ,2022-02-22
[7]
芯片检测防护结构 [P]. 
刘昕 .
中国专利 :CN206710555U ,2017-12-05
[8]
芯片检测装置及芯片烧录机 [P]. 
唐龙 ;
胡勇 ;
陈勇 .
中国专利 :CN215003466U ,2021-12-03
[9]
芯片吸附装置 [P]. 
葛沈浩 .
中国专利 :CN212725266U ,2021-03-16
[10]
芯片检测方法及芯片检测装置 [P]. 
周舰波 .
中国专利 :CN113075533B ,2021-07-06