电子设备、误差校正方法及记录介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810623913.7

申请日：

2018-06-15

公开(公告)号：

CN109141470A

公开(公告)日：

2019-01-04

发明(设计)人：

远田尚登

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01C2500

IPC分类号：

代理机构：

北京银龙知识产权代理有限公司 11243

代理人：

范胜杰;王立杰

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-01-29	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01C 25/00 申请日:20180615
2023-01-06	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01C 25/00 申请公布日:20190104
2019-01-04	公开	公开

共 50 条

[1]

正交误差校正方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王碧银 ;

张孟文 ;

毕磊 ;

毕超 .

中国专利 :CN120232461A ,2025-07-01

[2]

目标磁强计误差校正方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张远鹏 ;

汪海涛 ;

侯永伸 ;

刘雪峰 ;

杨林 ;

高新 ;

宋伟伟 ;

迟卉 ;

舒海龙 ;

易忠 ;

牛美霞 .

中国专利 :CN119087327A ,2024-12-06

[3]

旋转台误差校正方法、装置及电子设备 [P].

刘宏伟 ;

杨锐 ;

向华 .

中国专利 :CN109909801B ,2019-06-21

[4]

目标磁强计的误差校正方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张远鹏 ;

汪海涛 ;

侯永伸 ;

刘雪峰 ;

杨林 ;

高新 ;

赵文博 ;

陈言坤 ;

舒海龙 ;

迟卉 ;

黄魁 ;

易忠 ;

牛美霞 .

中国专利 :CN119087328A ,2024-12-06

[5]

检测电路、误差校正方法以及电子设备 [P].

赖旺华 .

中国专利 :CN117890649B ,2025-01-17

[6]

检测电路、误差校正方法以及电子设备 [P].

赖旺华 .

中国专利 :CN117890649A ,2024-04-16

[7]

激光测距误差校正方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

侯昌韬 .

中国专利 :CN112965048A ,2021-06-15

[8]

误差校正方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

王占营 ;

唐宝玲 .

中国专利 :CN118191760A ,2024-06-14

[9]

电子设备、校正控制方法以及记录介质 [P].

野村敬一 ;

南刚 .

中国专利 :CN109959976A ,2019-07-02

[10]

电子设备、校正控制方法以及记录介质 [P].

野村敬一 ;

南刚 .

日本专利 :CN118707625A ,2024-09-27

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