用于磁性粒子成像的设备、用于影响和/或检测多个和单个磁性粒子的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200880005229.7

申请日：

2008-02-11

公开(公告)号：

CN101626725B

公开(公告)日：

2010-01-13

发明(设计)人：

J·韦泽尼克 B·格莱克 H·尼格尔 A·伦丁

申请人：

申请人地址：

荷兰艾恩德霍芬

IPC主分类号：

A61B505

IPC分类号：

A61K4918

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司 72001

代理人：

康正德;谭祐祥

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-04-01	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101603734475 IPC(主分类):A61B 5/05 专利号:ZL2008800052297 申请日:20080211 授权公告日:20110810 终止日期:20140211
2010-05-05	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101001498774 IPC(主分类):A61B 5/05 专利申请号:2008800052297 申请日:20080211
2011-08-10	授权	授权
2010-01-13	公开	公开

共 50 条

[1]

用于影响和/或检测磁性粒子的装置和方法 [P].

C·邦图斯 ;

B·格莱希 .

中国专利 :CN103260508A ,2013-08-21

[2]

用于影响和/或探测磁性粒子的装置和方法 [P].

B·格莱希 .

中国专利 :CN102469951A ,2012-05-23

[3]

用于影响和/或检测作用区域中的磁性粒子的布置和方法 [P].

B·格莱希 ;

J·魏岑埃克 .

中国专利 :CN101563024A ,2009-10-21

[4]

用于影响和/或检测作用区域中的磁性粒子的布置和方法 [P].

B·格莱希 ;

J·魏岑埃克 .

中国专利 :CN101563023B ,2009-10-21

[5]

用于影响和/或检测作用区域中的磁性粒子的设备和方法 [P].

B·格莱希 ;

J·魏岑埃克 ;

J·坎岑巴克 .

中国专利 :CN101573071A ,2009-11-04

[6]

磁性粒子成像装置、磁性粒子成像方法和磁性粒子成像程序 [P].

吉田启太 ;

进泰彰 ;

冈田泰行 .

日本专利 :CN118042981A ,2024-05-14

[7]

磁性粒子成像系统和磁性粒子成像方法 [P].

山内一辉 ;

林重维 .

日本专利 :CN117957456A ,2024-04-30

[8]

用于影响和/或检测作用区域中的磁性粒子的装置和方法 [P].

B·格莱希 ;

J·魏岑埃克 .

中国专利 :CN101563033B ,2009-10-21

[9]

用于影响和/或检测作用区域中的磁性粒子的布置和方法、线圈布置 [P].

B·格莱希 ;

J·魏岑埃克 .

中国专利 :CN101563598B ,2009-10-21

[10]

用于影响和/或探测视场中的磁性粒子的装置和方法 [P].

J·E·拉米尔 ;

B·格莱希 ;

J·魏岑埃克 .

中国专利 :CN102497810A ,2012-06-13

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