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基于宽带荧光光谱的强度比测温方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201510570466.X
申请日
:
2015-09-10
公开(公告)号
:
CN105241575A
公开(公告)日
:
2016-01-13
发明(设计)人
:
张巍巍
王国耀
高益庆
何兴道
申请人
:
申请人地址
:
330063 江西省南昌市丰和南大道696号
IPC主分类号
:
G01K1132
IPC分类号
:
代理机构
:
南昌洪达专利事务所 36111
代理人
:
刘凌峰
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2016-01-13
公开
公开
2016-02-10
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101645684294 IPC(主分类):G01K 11/32 专利申请号:201510570466X 申请日:20150910
2017-11-10
授权
授权
共 50 条
[1]
一种宽带荧光光谱测温方法
[P].
张巍巍
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张巍巍
;
王国耀
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王国耀
;
高益庆
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高益庆
;
何兴道
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何兴道
.
中国专利
:CN105092088A
,2015-11-25
[2]
一种基于荧光谱线增宽机制的荧光强度比测温方法
[P].
张治国
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张治国
;
周圆
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周圆
;
秦峰
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秦峰
;
赵华
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赵华
;
郑仰东
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郑仰东
.
中国专利
:CN105300555A
,2016-02-03
[3]
一种基于双波长光源的荧光强度比测温方法
[P].
张治国
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张治国
;
李磊朋
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李磊朋
;
秦峰
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秦峰
.
中国专利
:CN109540326A
,2019-03-29
[4]
基于电荷迁移带边缘反常热猝灭的荧光强度比测温方法
[P].
周贤菊
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周贤菊
;
李思雨
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李思雨
;
李丽
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李丽
;
相国涛
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相国涛
;
江莎
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江莎
;
曹中民
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曹中民
;
谢广新
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谢广新
.
中国专利
:CN111947804B
,2020-11-17
[5]
一种宽带荧光积分强度比测量应变的方法
[P].
张巍巍
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张巍巍
;
李朝
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李朝
;
高益庆
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高益庆
;
何兴道
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何兴道
.
中国专利
:CN105203041B
,2015-12-30
[6]
基于DMD的荧光光谱探测方法
[P].
黄晨明
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黄晨明
;
余佳
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余佳
;
高玉峰
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高玉峰
;
香凤
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香凤
;
王楠楠
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王楠楠
;
郑炜
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郑炜
.
中国专利
:CN114295593A
,2022-04-08
[7]
一种用宽带荧光光谱传感应变的方法
[P].
张巍巍
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张巍巍
;
李朝
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李朝
;
高益庆
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高益庆
;
何兴道
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何兴道
.
中国专利
:CN105181016A
,2015-12-23
[8]
一种基于混合感温材料的荧光强度比测温方法
[P].
张治国
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张治国
;
周圆
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周圆
.
中国专利
:CN110146194A
,2019-08-20
[9]
一种提高荧光强度比技术测温精度的方法
[P].
张治国
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张治国
;
李磊朋
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李磊朋
;
秦峰
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秦峰
;
赵华
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赵华
;
郑仰东
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郑仰东
.
中国专利
:CN108489632B
,2018-09-04
[10]
一种荧光光谱成像动态测温装置及方法
[P].
于国洋
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机构:
中国工程物理研究院流体物理研究所
中国工程物理研究院流体物理研究所
于国洋
;
曾阳阳
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机构:
中国工程物理研究院流体物理研究所
中国工程物理研究院流体物理研究所
曾阳阳
;
宋云飞
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机构:
中国工程物理研究院流体物理研究所
中国工程物理研究院流体物理研究所
宋云飞
;
母健
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机构:
中国工程物理研究院流体物理研究所
中国工程物理研究院流体物理研究所
母健
;
朱刚贝
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机构:
中国工程物理研究院流体物理研究所
中国工程物理研究院流体物理研究所
朱刚贝
;
吴红琳
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机构:
中国工程物理研究院流体物理研究所
中国工程物理研究院流体物理研究所
吴红琳
;
李逊
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机构:
中国工程物理研究院流体物理研究所
中国工程物理研究院流体物理研究所
李逊
;
杨延强
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机构:
中国工程物理研究院流体物理研究所
中国工程物理研究院流体物理研究所
杨延强
.
中国专利
:CN121048766A
,2025-12-02
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