一种表面磁光克尔效应测量装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN200620041198.9
申请日
2006-04-20
公开(公告)号
CN2886553Y
公开(公告)日
2007-04-04
发明(设计)人
胡顺全 陈希江 董国胜 陆申龙
申请人
申请人地址
200433上海市国权路561号5楼
IPC主分类号
G01N2121
IPC分类号
代理机构
上海正旦专利代理有限公司
代理人
陆飞;盛志范
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种大场纵向表面磁光克尔效应测量装置 [P]. 
马斌 ;
顾培培 ;
张宗芝 ;
金庆原 .
中国专利 :CN101271059A ,2008-09-24
[2]
表面磁光克尔效应装置 [P]. 
胡顺全 ;
董国胜 ;
陈希江 ;
陆申龙 .
中国专利 :CN2886552Y ,2007-04-04
[3]
一种表面磁光克尔效应测量装置 [P]. 
顾晨 ;
狄魁 ;
侯永超 ;
何臻昀 ;
陈柏全 .
中国专利 :CN222212923U ,2024-12-20
[4]
磁光克尔效应与法拉第效应综合测量装置 [P]. 
郑源明 ;
罗双芹 ;
时晨 ;
王导博 ;
肖飒 ;
王振宇 .
中国专利 :CN220913327U ,2024-05-07
[5]
一种空间分辨磁光克尔效应测量装置 [P]. 
徐永兵 ;
刘墨玉 ;
阮学忠 ;
吴竞 ;
黎遥 ;
刘波 .
中国专利 :CN105891744A ,2016-08-24
[6]
一种克尔效应测量装置 [P]. 
索奕双 .
中国专利 :CN108414793A ,2018-08-17
[7]
一种克尔效应测量装置 [P]. 
张向平 ;
陈兴威 ;
黄月妹 .
中国专利 :CN208588756U ,2019-03-08
[8]
一种克尔效应测量方法 [P]. 
索奕双 .
中国专利 :CN108414792B ,2018-08-17
[9]
一种磁光克尔效应测量样品测试台 [P]. 
陈雨璐 ;
王文翌 ;
王福梅 .
中国专利 :CN223332892U ,2025-09-12
[10]
对原位表面磁光克尔效应进行测量的系统及方法 [P]. 
赵建华 ;
姬扬 ;
郑厚植 ;
杨威 ;
鲁军 .
中国专利 :CN101685146B ,2010-03-31