双波长散射比浊测量装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201620085458.6

申请日：

2016-01-28

公开(公告)号：

CN205538673U

公开(公告)日：

2016-08-31

发明(设计)人：

张炎秦军芳梁铁柱谭玉华

申请人：

申请人地址：

510000 广东省广州市高新技术产业开发区科学城科丰路31号G8栋3楼

IPC主分类号：

G01N2151

IPC分类号：

代理机构：

北京攀腾专利代理事务所(普通合伙) 11374

代理人：

彭蓉

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-08-31	授权	授权

共 50 条

[1]

双波长散射比浊测量装置 [P].

张炎 ;

秦军芳 ;

梁铁柱 ;

谭玉华 .

中国专利 :CN105548082A ,2016-05-04

[2]

比浊测量装置 [P].

章涛 ;

汪东生 .

中国专利 :CN213121625U ,2021-05-04

[3]

一种多波长散射及透射比浊测量装置 [P].

王连升 ;

张天敏 ;

孔令才 ;

毛黎亮 .

中国专利 :CN208580027U ,2019-03-05

[4]

一种散射法比浊测量装置 [P].

章涛 ;

汪东生 .

中国专利 :CN211955214U ,2020-11-17

[5]

一种多波长散射及透射比浊测量装置 [P].

王连升 ;

张天敏 ;

孔令才 ;

毛黎亮 .

中国专利 :CN108732134A ,2018-11-02

[6]

一种散射比浊测量仪 [P].

何仕钊 .

中国专利 :CN202339325U ,2012-07-18

[7]

一种散射法比浊测量装置 [P].

章涛 ;

汪东生 .

中国专利 :CN112924420A ,2021-06-08

[8]

激光散射比浊仪的检测装置 [P].

戴军 ;

吕军 .

中国专利 :CN201765184U ,2011-03-16

[9]

一种用于散射比浊法的光电测量装置 [P].

张谷川 ;

胡朝晖 ;

时培娟 .

中国专利 :CN205280582U ,2016-06-01

[10]

一种散射比浊测量仪 [P].

卓伟奇 ;

许国和 ;

王远 ;

顾裕峰 ;

涂小宁 .

中国专利 :CN111595823A ,2020-08-28

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