校准X射线探测器的装置和方法、校准设备和X射线设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110365141.X

申请日：

2011-11-17

公开(公告)号：

CN102478661A

公开(公告)日：

2012-05-30

发明(设计)人：

E.克拉夫特 B.克里斯勒

申请人：

申请人地址：

德国慕尼黑

IPC主分类号：

G01T140

IPC分类号：

G01T129

代理机构：

北京市柳沈律师事务所 11105

代理人：

谢强

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-05-30	公开	公开
2013-04-24	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101444319821 IPC(主分类):G01T 1/40 专利申请号:201110365141X 申请日:20111117
2016-01-06	专利权的视为放弃	专利权的视为放弃号牌文件类型代码:1606 号牌文件序号:101640758591 IPC(主分类):G01T 1/40 专利申请号:201110365141X 放弃生效日:20160106

共 50 条

[1]

X射线设备和X射线探测器 [P].

朴惠淑 ;

韩宇燮 ;

金相旭 .

中国专利 :CN106999126B ,2017-08-01

[2]

X射线探测器和具有X射线探测器的X射线设备 [P].

M·霍瑟曼 ;

T·厄格勒 ;

J·弗雷格 .

中国专利 :CN112198543A ,2021-01-08

[3]

X射线探测器、X射线设备和温度调节方法 [P].

T·朗塞德 ;

S·韦尔费尔 .

德国专利 :CN120392135A ,2025-08-01

[4]

用于生产x射线探测器的组装方法、x射线探测器和x射线设备 [P].

T·厄格勒 ;

M·拉巴延德英扎 ;

J·弗雷格 .

中国专利 :CN110058291A ,2019-07-26

[5]

X射线探测器、成像装置和校准方法 [P].

E·勒斯尔 ;

H·德尔 .

中国专利 :CN106030345A ,2016-10-12

[6]

X射线检测设备以及X射线探测器的校准装置及方法 [P].

陈培军 ;

谭涌涛 ;

赵巍 ;

桑德斯·罗兰 .

中国专利 :CN106923851A ,2017-07-07

[7]

X射线探测器的校准方法 [P].

F·格拉塞尔 ;

M·加尔桑 .

中国专利 :CN102725659A ,2012-10-10

[8]

散射射线滤波器、X射线探测器和X射线设备 [P].

A·弗罗因德 ;

B·雷茨 ;

J·弗雷格 .

中国专利 :CN209884166U ,2020-01-03

[9]

X射线探测方法、和X射线探测器 [P].

邢宇翔 ;

郭潇月 ;

邓智 ;

沈乐 ;

张丽 ;

陈志强 ;

李亮 .

中国专利 :CN107345923A ,2017-11-14

[10]

X射线探测器和X射线探测器制造方法 [P].

唐德铮 .

中国专利 :CN101253419B ,2008-08-27

← 1 2 3 4 5 →