一种DAC电路并行测试系统及并行测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610970057.3

申请日：

2016-11-03

公开(公告)号：

CN106603074A

公开(公告)日：

2017-04-26

发明(设计)人：

叶刚

申请人：

申请人地址：

430205 湖北省武汉市东湖开发区高新四路18号

IPC主分类号：

H03M110

IPC分类号：

代理机构：

北京轻创知识产权代理有限公司 11212

代理人：

杨立;李蕾

法律状态：

发明专利申请公布后的驳回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-03-26	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H03M 1/10 申请公布日:20170426
2017-04-26	公开	公开
2017-05-24	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101721570347 IPC(主分类):H03M 1/10 专利申请号:2016109700573 申请日:20161103

共 50 条

[1]

一种并行测试系统及测试方法 [P].

李廷勇 .

中国专利 :CN105376108A ,2016-03-02

[2]

一种并行测试方法及系统 [P].

尹昌胜 .

中国专利 :CN100486185C ,2007-06-20

[3]

一种并行测试系统及方法 [P].

刘国梁 .

中国专利 :CN107843829A ,2018-03-27

[4]

并行测试系统及其测试方法 [P].

吴奇伟 ;

尹彬锋 ;

王炯 .

中国专利 :CN104076267B ,2014-10-01

[5]

一种并行测试系统及其测试方法 [P].

成家柏 ;

陆梅君 ;

杨慎知 .

中国专利 :CN112147482A ,2020-12-29

[6]

一种并行测试系统 [P].

林振国 ;

叶永权 ;

黄儒平 .

中国专利 :CN203191489U ,2013-09-11

[7]

一种电路板并行测试系统 [P].

徐永平 ;

明伟 ;

毛忠伟 .

中国专利 :CN109490754A ,2019-03-19

[8]

元件并行测试系统及其测试方法 [P].

骆文彬 ;

施云严 ;

刘一如 .

中国专利 :CN101988948A ,2011-03-23

[9]

一种并行测试方法及并行测试服务器 [P].

曾一迅 .

中国专利 :CN102609352B ,2012-07-25

[10]

一种导电滑环在线并行测试系统及测试方法 [P].

邰洋 ;

赵政 ;

张新远 ;

刘嘉倬 ;

王磊 .

中国专利 :CN110967591B ,2020-04-07

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