光学检测器

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202080011270.6

申请日：

2020-01-28

公开(公告)号：

CN113396320A

公开(公告)日：

2021-09-14

发明(设计)人：

S·瓦鲁施 A·克莱恩 S·穆勒 W·赫尔梅斯 R·森德

申请人：

申请人地址：

德国莱茵河畔路德维希港

IPC主分类号：

G01J528

IPC分类号：

G01J508 G01J520 H01L3102 H01L27146 H01L310232 G01J102 G01J504 G01J502 G01J506 H01L3109 H01L27144 H01L31032 H01L310216

代理机构：

北京市中咨律师事务所 11247

代理人：

王英杰;于静

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-02-22	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 5/28 申请日:20200128
2021-09-14	公开	公开

共 50 条

[1]

光学检测器 [P].

T·阿尔腾贝克 ;

H·贝克特尔 ;

R·赫 ;

F·迪特曼 ;

S·穆勒 ;

T·胡普福尔 ;

P·P·卡莱塔 ;

R·古斯特 ;

B·福伊尔施泰因 ;

W·赫尔梅斯 ;

S·瓦鲁施 ;

R·森德 ;

I·布鲁德 .

中国专利 :CN110770555A ,2020-02-07

[2]

光学检测器 [P].

T·阿尔腾贝克 ;

H·贝克特尔 ;

R·赫 ;

F·迪特曼 ;

S·穆勒 ;

T·胡普福尔 ;

P·P·卡莱塔 ;

R·古斯特 ;

B·福伊尔施泰因 ;

W·赫尔梅斯 ;

S·瓦鲁施 ;

R·森德 ;

I·布鲁德 .

德国专利 :CN119958702A ,2025-05-09

[3]

光学检测器 [P].

R·森德 ;

I·布鲁德 ;

S·伊尔勒 ;

E·蒂尔 ;

H·沃内博格 .

中国专利 :CN105637320A ,2016-06-01

[4]

光学检测器 [P].

R·森德 ;

I·布鲁德 ;

S·瓦鲁施 ;

S·伊尔勒 ;

E·蒂尔 ;

C·朗根施密德 .

中国专利 :CN107003120A ,2017-08-01

[5]

光学检测器 [P].

R·森德 ;

I·布鲁德 ;

S·瓦鲁施 ;

S·伊尔勒 ;

E·蒂尔 ;

C·朗根施密德 ;

M·阿尔海尔维 .

中国专利 :CN107003122A ,2017-08-01

[6]

光学检测器 [P].

R·森德 ;

I·布鲁德 ;

S·瓦鲁施 ;

S·伊尔勒 ;

E·蒂尔 .

中国专利 :CN107003121A ,2017-08-01

[7]

光学检测器 [P].

S·B·罗博尔 ;

理查德·金塔尼利亚 .

中国专利 :CN111051984B ,2020-04-21

[8]

LED光学检测器 [P].

张卫东 ;

李绍楷 .

中国专利 :CN101451908A ,2009-06-10

[9]

LED光学检测器 [P].

张卫东 ;

李绍楷 .

中国专利 :CN201149540Y ,2008-11-12

[10]

用于光学检测至少一种物体的检测器 [P].

I·布鲁德 ;

F·艾克迈尔 ;

P·埃尔克 ;

R·森斯 ;

S·伊尔勒 ;

H·阿尔穆罕默迪 ;

A·佩尔斯特 ;

E·蒂尔 .

中国专利 :CN103492835B ,2014-01-01

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