一种测试DDR2数据有效窗口的方法和装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201110383734.9
申请日
2011-11-28
公开(公告)号
CN102496390A
公开(公告)日
2012-06-13
发明(设计)人
李静 张英文 纪奎 张磊 白宗元 窦晓光 李旭 刘朝辉
申请人
申请人地址
100084 北京市海淀区水磨西街64号
IPC主分类号
G11C2956
IPC分类号
代理机构
北京安博达知识产权代理有限公司 11271
代理人
徐国文
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种测试DDR3数据有效窗口的方法和装置 [P]. 
李静 ;
张英文 ;
纪奎 ;
张磊 ;
白宗元 ;
窦晓光 ;
李旭 ;
刘朝辉 .
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