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无源互调的测量方法和测量装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201580050745.1
申请日
:
2015-09-10
公开(公告)号
:
CN106716854A
公开(公告)日
:
2017-05-24
发明(设计)人
:
C·恩斯费尔纳
B·肯戴尔
M·施瓦布
申请人
:
申请人地址
:
德国弗里多尔芬
IPC主分类号
:
H04B346
IPC分类号
:
H04B1710
H04B17345
代理机构
:
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人
:
刘新宇
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2017-10-20
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H04B 3/46 申请日:20150910
2018-08-03
授权
授权
2017-05-24
公开
公开
共 50 条
[1]
互调测量所用的方法和测量装置
[P].
C·恩斯费尔纳
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C·恩斯费尔纳
;
B·肯戴尔
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B·肯戴尔
;
M·施瓦布
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M·施瓦布
.
中国专利
:CN106461719A
,2017-02-22
[2]
无源互调非线性特性参数的多状态测量方法和装置
[P].
谢拥军
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谢拥军
;
郭昊
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郭昊
;
李韵
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李韵
;
崔万照
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崔万照
.
中国专利
:CN110716095A
,2020-01-21
[3]
一种无源互调干扰的矢量测量方法
[P].
杨保国
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杨保国
;
王尊峰
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王尊峰
;
李树彪
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李树彪
;
李明太
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李明太
;
郭永瑞
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郭永瑞
;
马景芳
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马景芳
.
中国专利
:CN103675448B
,2014-03-26
[4]
测量装置和测量方法
[P].
铃木一隆
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铃木一隆
;
松井克宜
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松井克宜
;
丰田晴义
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丰田晴义
;
宅见宗则
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宅见宗则
;
袴田直俊
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袴田直俊
.
中国专利
:CN105792730A
,2016-07-20
[5]
测量装置和测量方法
[P].
樋口诚
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樋口诚
;
源田弘长
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源田弘长
;
滨田龙也
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滨田龙也
;
江崎龙洋
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江崎龙洋
.
中国专利
:CN115004006A
,2022-09-02
[6]
测量装置和测量方法
[P].
森広宣
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机构:
株式会社昭和真空
株式会社昭和真空
森広宣
;
塩野忠久
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机构:
株式会社昭和真空
株式会社昭和真空
塩野忠久
;
迹边好寿
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机构:
株式会社昭和真空
株式会社昭和真空
迹边好寿
.
日本专利
:CN118259057A
,2024-06-28
[7]
测量装置和测量方法
[P].
川西光宏
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机构:
索尼集团公司
索尼集团公司
川西光宏
;
石田祐一
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机构:
索尼集团公司
索尼集团公司
石田祐一
;
杉山太喜
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机构:
索尼集团公司
索尼集团公司
杉山太喜
;
中尾道子
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机构:
索尼集团公司
索尼集团公司
中尾道子
;
宫原和彦
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机构:
索尼集团公司
索尼集团公司
宫原和彦
;
山野谅太
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机构:
索尼集团公司
索尼集团公司
山野谅太
.
日本专利
:CN119053851A
,2024-11-29
[8]
测量装置和测量方法
[P].
托马斯·阿尔伯
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托马斯·阿尔伯
;
约阿希姆·阿尔贝特
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约阿希姆·阿尔贝特
;
拉尔夫·施托伊尔瓦尔德
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拉尔夫·施托伊尔瓦尔德
;
迈克尔·汉克
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迈克尔·汉克
;
安哥拉·奥比施
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安哥拉·奥比施
.
中国专利
:CN107085117B
,2017-08-22
[9]
测量装置和测量方法
[P].
小松崎晋路
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小松崎晋路
;
铃木义将
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铃木义将
;
高桥知隆
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高桥知隆
.
中国专利
:CN114076950A
,2022-02-22
[10]
测量装置和测量方法
[P].
吕民圭
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机构:
三星显示有限公司
三星显示有限公司
吕民圭
;
裴善雄
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机构:
三星显示有限公司
三星显示有限公司
裴善雄
.
韩国专利
:CN120917554A
,2025-11-07
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