一种干涉测量方法和装置

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申请号
CN202110708766.5
申请日
2021-06-25
公开(公告)号
CN115524702A
公开(公告)日
2022-12-27
发明(设计)人
张鸿翼 秦博雅
申请人
申请人地址
518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼
IPC主分类号
G01S1390
IPC分类号
G01S741
代理机构
北京龙双利达知识产权代理有限公司 11329
代理人
周乔;王君
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
干涉测量装置和干涉测量方法 [P]. 
高桥永齐 ;
河合直弥 ;
里园浩 .
日本专利 :CN120936863A ,2025-11-11
[2]
干涉测量方法和干涉测量系统 [P]. 
B·多班德 .
德国专利 :CN117685872A ,2024-03-12
[3]
干涉测量方法、干涉测量装置以及干涉测量系统 [P]. 
路伟涛 ;
任天鹏 ;
陈略 .
中国专利 :CN115308681A ,2022-11-08
[4]
干涉测量方法、干涉测量装置以及干涉测量系统 [P]. 
路伟涛 ;
任天鹏 ;
陈略 .
中国专利 :CN115308681B ,2025-04-11
[5]
一种雷达测量方法及装置 [P]. 
万蕾 ;
马莎 ;
伍勇 ;
许明霞 .
中国专利 :CN111624603B ,2020-09-04
[6]
干涉测量系统以及干涉测量方法 [P]. 
符建 ;
刘旭 ;
匡翠方 ;
丁志华 .
中国专利 :CN120489354A ,2025-08-15
[7]
测量方法及装置 [P]. 
杨思静 ;
张强 ;
苏惠荞 ;
魏志方 .
中国专利 :CN115471520A ,2022-12-13
[8]
干涉式测量方法和干涉式测量布置 [P]. 
A.沃尔夫 .
中国专利 :CN115112041A ,2022-09-27
[9]
衍射光学元件和干涉测量方法 [P]. 
J.赫茨勒 .
中国专利 :CN107816939B ,2018-03-20
[10]
衍射光学元件和干涉测量方法 [P]. 
J.赫茨勒 .
中国专利 :CN104685317A ,2015-06-03