变频器老化测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200410084229.4

申请日：

2004-11-17

公开(公告)号：

CN1779471A

公开(公告)日：

2006-05-31

发明(设计)人：

王会华纪正达钱匡胡新宇

申请人：

申请人地址：

201101上海市闵行区七宝中春路7318号

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

上海智信专利代理有限公司

代理人：

薛琦

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2006-05-31	公开	公开
2006-09-20	实质审查的生效	实质审查的生效
2008-09-17	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回

共 50 条

[1]

变频器的老化测试装置 [P].

佘丽萍 ;

庞仁杰 ;

周玲玲 ;

陈海彬 .

中国专利 :CN203259607U ,2013-10-30

[2]

变频器老化测试装置 [P].

郭必华 ;

张学斌 ;

钱程 .

中国专利 :CN214409141U ,2021-10-15

[3]

变频器老化测试系统 [P].

袁鑫 ;

曾凌波 .

中国专利 :CN108872745A ,2018-11-23

[4]

低压变频器老化测试装置 [P].

张树林 ;

陈万燕 ;

钱永 ;

邓德宽 .

中国专利 :CN212459910U ,2021-02-02

[5]

低压变频器老化测试装置 [P].

张树林 ;

陈万燕 ;

钱永 ;

邓得宽 .

中国专利 :CN113466575A ,2021-10-01

[6]

变频器老化测试装置及系统 [P].

李轻 .

中国专利 :CN208172117U ,2018-11-30

[7]

一种变频器老化测试装置 [P].

张庆平 ;

谭伟 ;

窦金姿 ;

崔召兵 .

中国专利 :CN205067633U ,2016-03-02

[8]

多台变频器老化测试装置及其方法 [P].

王会华 ;

纪正达 ;

钱匡 ;

胡新宇 .

中国专利 :CN1779472A ,2006-05-31

[9]

一种变频器老化测试装置 [P].

乐斌 ;

冯湛 ;

吴弟 .

中国专利 :CN113391159B ,2021-09-14

[10]

一种变频器老化测试装置 [P].

谷小路 ;

袁涛 .

中国专利 :CN216350996U ,2022-04-19

← 1 2 3 4 5 →