可控硅检测电路

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN200920134722.0
申请日
2009-08-11
公开(公告)号
CN201555929U
公开(公告)日
2010-08-18
发明(设计)人
王勇 吴志明 白清利 刘建伟 董晓勇
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区科技园科技南十路深圳技术创新大楼D座10层
IPC主分类号
G01R3126
IPC分类号
G01R3102
代理机构
深圳市科吉华烽知识产权事务所 44248
代理人
胡吉科
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
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