一种相控阵校测的方法以及校测装置

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专利类型
发明
申请号
CN201880004203.4
申请日
2018-04-28
公开(公告)号
CN109952513A
公开(公告)日
2019-06-28
发明(设计)人
葛广顶 赵旭波 赵德双
申请人
申请人地址
518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼
IPC主分类号
G01R2910
IPC分类号
G01R2908
代理机构
代理人
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种相控阵校测的方法以及校测装置 [P]. 
葛广顶 ;
赵旭波 ;
赵德双 .
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[2]
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[3]
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[4]
一种实验用校测装置 [P]. 
戴建新 .
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[5]
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