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加样针及样本分析装置

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201920996242.9
申请日：
2019-06-28
公开(公告)号：
CN210690609U
公开(公告)日：
2020-06-05
发明(设计)人：
赵飞翔 李爱博 李鑫
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市南山区高新技术产业园区科技南十二路迈瑞大厦1-4层
IPC主分类号：
G01N3510
IPC分类号：
代理机构：
深圳市力道知识产权代理事务所(普通合伙) 44507
代理人：
何姣
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2020-06-05 授权 授权
共 50 条
[1]
加样针组件和样本分析仪 [P]. 
柯常训 ;
夏沛玉 ;
王斌 .
中国专利 :CN216485079U ,2022-05-10
[2]
样本分析仪的加样装置及样本分析仪 [P]. 
章姚辉 ;
许海清 .
中国专利 :CN108802416B ,2024-06-25
[3]
样本分析仪的加样装置及样本分析仪 [P]. 
章姚辉 ;
许海清 .
中国专利 :CN108802416A ,2018-11-13
[4]
加样针、液面探测装置及液面探测方法、样本分析仪 [P]. 
丁辉 ;
刘振华 ;
陈昌文 ;
周其盛 .
中国专利 :CN119716116A ,2025-03-28
[5]
样本分析装置及其采样针 [P]. 
冯祥 .
中国专利 :CN212780849U ,2021-03-23
[6]
样本分析系统、样本分析装置及样本分析方法 [P]. 
小田哲也 ;
桑野桂辅 ;
福间大吾 ;
有吉俊辅 .
中国专利 :CN103348250B ,2013-10-09
[7]
样本分析装置、样本分析方法及样本分析系统 [P]. 
加藤拓马 ;
福间大吾 ;
滨田雄一 .
中国专利 :CN103364575B ,2013-10-23
[8]
样本分析方法及样本分析装置 [P]. 
坂本光优 ;
小篠正继 .
中国专利 :CN104422646A ,2015-03-18
[9]
样本分析方法及样本分析装置 [P]. 
坂本光优 ;
小篠正继 .
中国专利 :CN104422645A ,2015-03-18
[10]
样本分析装置及样本分析方法 [P]. 
立山翔太 ;
金子哲也 .
中国专利 :CN105388305B ,2016-03-09
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