三维测量装置、三维测量方法以及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811178513.6

申请日：

2018-10-10

公开(公告)号：

CN109751973A

公开(公告)日：

2019-05-14

发明(设计)人：

付星斗诹访正树

申请人：

申请人地址：

日本京都

IPC主分类号：

G01B1125

IPC分类号：

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司 11240

代理人：

玉昌峰;李罡

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-06-07	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/25 申请日:20181010
2020-12-11	授权	授权
2019-05-14	公开	公开

共 50 条

[1]

三维测量装置、三维测量方法以及三维测量程序 [P].

卢存伟 .

中国专利 :CN101061367A ,2007-10-24

[2]

三维测量装置、三维测量方法 [P].

田端伸章 .

中国专利 :CN112567199B ,2021-03-26

[3]

三维测量装置以及三维测量方法 [P].

新山孝幸 ;

大山刚 ;

坂井田宪彦 .

中国专利 :CN113767263A ,2021-12-07

[4]

三维测量装置以及三维测量方法 [P].

新山孝幸 ;

大山刚 ;

坂井田宪彦 .

日本专利 :CN113767263B ,2024-05-07

[5]

三维测量装置以及三维测量方法 [P].

大山刚 ;

坂井田宪彦 ;

二村伊久雄 .

中国专利 :CN107429992B ,2017-12-01

[6]

三维测量装置以及三维测量方法 [P].

大桥隆弘 .

日本专利 :CN119665862A ,2025-03-21

[7]

三维测量装置、三维测量方法及三维测量用程序 [P].

林笃司 ;

高地伸夫 ;

七夕高也 ;

矶部祥子 .

中国专利 :CN113874677A ,2021-12-31

[8]

三维测量装置、三维测量方法 [P].

木村匠 .

中国专利 :CN102628678B ,2012-08-08

[9]

三维测量装置和三维测量方法 [P].

川末纪功仁 ;

大宅雄一郎 .

中国专利 :CN1860345A ,2006-11-08

[10]

三维测量装置和三维测量方法 [P].

太田悠介 .

日本专利 :CN115280097B ,2025-08-26

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