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平面差分电迁移率分析仪-质谱联用系统和分析方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202110900982.X
申请日：
2021-08-06
公开(公告)号：
CN113484402B
公开(公告)日：
2021-10-08
发明(设计)人：
王志彬 徐正宁 裴祥宇 高健 邝斌宇 徐庄浩
申请人：
申请人地址：
310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
IPC主分类号：
G01N27623
IPC分类号：
G01N27624
代理机构：
杭州求是专利事务所有限公司 33200
代理人：
邱启旺
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-10-08 公开 公开
2021-10-26 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 27/623 申请日:20210806
2022-04-12 授权 授权
共 50 条
[1]
化学电离-差分电迁移率筛分-质谱联用系统及工作方法 [P]. 
王志彬 ;
徐正宁 ;
左涵菲 ;
高健 ;
裴祥宇 .
中国专利 :CN120341107B ,2025-08-22
[2]
化学电离-差分电迁移率筛分-质谱联用系统及工作方法 [P]. 
王志彬 ;
徐正宁 ;
左涵菲 ;
高健 ;
裴祥宇 .
中国专利 :CN120341107A ,2025-07-18
[3]
一种串联差分电迁移率分析仪控制系统及控制方法 [P]. 
钱小东 ;
徐学哲 ;
赵卫雄 ;
鲍健 ;
张为俊 .
中国专利 :CN104678112A ,2015-06-03
[4]
一种检验差分电迁移率分析仪性能的实验装置 [P]. 
于明州 ;
蔡昂阳 ;
刘岳燕 ;
曹衍龙 .
中国专利 :CN114894677B ,2025-10-10
[5]
一种检验差分电迁移率分析仪性能的实验装置 [P]. 
于明州 ;
蔡昂阳 ;
刘岳燕 ;
曹衍龙 .
中国专利 :CN114894677A ,2022-08-12
[6]
离子迁移谱-质谱联用分析装置 [P]. 
孙文剑 ;
曾国峯 ;
王珂珂 ;
张小强 .
中国专利 :CN115705992A ,2023-02-17
[7]
差分离子迁移率分析 [P]. 
R·安德热耶夫斯基 ;
R·吉尔斯 ;
A·恩特威斯尔 .
日本专利 :CN119630962A ,2025-03-14
[8]
混合离子迁移率和质谱分析仪器 [P]. 
D·E·克莱默 ;
J·P·赖利 .
中国专利 :CN1271462A ,2000-10-25
[9]
一种气溶胶电迁移率粒径谱测量系统和方法 [P]. 
蒋靖坤 ;
陈小彤 ;
张强 .
中国专利 :CN109187289A ,2019-01-11
[10]
质谱分析装置和色谱质谱联用仪 [P]. 
安田弘之 .
中国专利 :CN110506205B ,2019-11-26
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