深度测量装置及距离测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910632082.4

申请日：

2019-07-12

公开(公告)号：

CN110333501A

公开(公告)日：

2019-10-15

发明(设计)人：

王兆民武万多

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区学府路63号高新区联合总部大厦12楼

IPC主分类号：

G01S7481

IPC分类号：

G01S1708

代理机构：

深圳新创友知识产权代理有限公司 44223

代理人：

孟学英

法律状态：

著录事项变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-01-26	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G01S 7/481 变更事项:申请人变更前:深圳奥比中光科技有限公司变更后:奥比中光科技集团股份有限公司变更事项:地址变更前:518000 广东省深圳市南山区学府路63号高新区联合总部大厦12楼变更后:518000 广东省深圳市南山区粤海街道学府路63号高新区联合总部大厦11-13楼
2019-11-08	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01S 7/481 申请日:20190712
2019-10-15	公开	公开

共 50 条

[1]

融合的深度测量装置及距离测量方法 [P].

许星 .

中国专利 :CN110456379A ,2019-11-15

[2]

一种深度测量装置及测量方法 [P].

许星 .

中国专利 :CN111123289A ,2020-05-08

[3]

一种深度测量装置及测量方法 [P].

王兆民 .

中国专利 :CN111025319B ,2020-04-17

[4]

距离测量装置以及距离测量方法 [P].

久保田宽 ;

松本展 .

中国专利 :CN112305556A ,2021-02-02

[5]

距离测量装置和距离测量方法 [P].

山口启太 ;

中村悠介 .

中国专利 :CN109900249B ,2019-06-18

[6]

一种可变焦的深度测量装置及测量方法 [P].

王兆民 .

中国专利 :CN111025321B ,2020-04-17

[7]

距离测量装置及距离测量方法 [P].

长井利明 .

韩国专利 :CN118330660A ,2024-07-12

[8]

距离测量装置及距离测量方法 [P].

久保田宽 ;

松本展 .

日本专利 :CN110907942B ,2024-04-16

[9]

距离测量装置及距离测量方法 [P].

广田祐一郞 ;

降簱久义 ;

中里祐介 .

中国专利 :CN103512548B ,2014-01-15

[10]

距离测量装置及距离测量方法 [P].

郑郁正 .

中国专利 :CN104950309A ,2015-09-30

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