一种外观缺陷检查装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202020428248.9

申请日：

2020-03-30

公开(公告)号：

CN212120857U

公开(公告)日：

2020-12-11

发明(设计)人：

许炳渊单明霞

申请人：

申请人地址：

116600 辽宁省大连市金州区经济技术开发区湾达北路5号

IPC主分类号：

B07C502

IPC分类号：

B07C5342 B07C536

代理机构：

大连非凡专利事务所 21220

代理人：

王廉

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-12-11	授权	授权

共 50 条

[1]

一种镜片外观缺陷检查装置 [P].

陈长青 ;

朱秀谨 ;

陈则林 .

中国专利 :CN119738418A ,2025-04-01

[2]

层叠件外观缺陷检查装置 [P].

陈荣强 ;

艾无穷 ;

严思韦 ;

柏应辉 ;

梁腾文 .

中国专利 :CN212514313U ,2021-02-09

[3]

一种可调式外观缺陷检查装置 [P].

吕斌 ;

戴飞 ;

杨平 .

中国专利 :CN221038668U ,2024-05-28

[4]

一种全自动外观缺陷检查装置及方法 [P].

李会丽 ;

李志丹 ;

唐世弋 .

中国专利 :CN107664646A ,2018-02-06

[5]

缺陷检查装置 [P].

小林信次 ;

福井仁之 .

日本专利 :CN223346764U ,2025-09-16

[6]

一种薄膜外观缺陷的在线检查装置 [P].

杨俊辉 ;

祁少利 ;

刘菲 .

中国专利 :CN215066227U ,2021-12-07

[7]

一种用于FPC外观缺陷检查的装置 [P].

郑众喜 ;

李鹏杰 ;

周卫林 ;

骆庆忠 ;

周慧 .

中国专利 :CN207215716U ,2018-04-10

[8]

一种胶套缺陷检查装置 [P].

翁红卫 ;

雷伟 .

中国专利 :CN202710260U ,2013-01-30

[9]

缺陷检查装置缺陷检查方法 [P].

冈部浩史 ;

金谷义宏 ;

松本俊彦 .

中国专利 :CN101034069A ,2007-09-12

[10]

一种芯片端子外观缺陷检查机 [P].

洪亚德 ;

赵凌焜 ;

王士奇 .

中国专利 :CN220795081U ,2024-04-16

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