一种磁瓦内部缺陷检测装置及检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110461539.7

申请日：

2021-04-27

公开(公告)号：

CN113219054B

公开(公告)日：

2021-08-06

发明(设计)人：

钱翔程致远朱凯雄李星辉朱拾东王晓浩

申请人：

申请人地址：

518055 广东省深圳市南山区西丽街道深圳大学城清华校区A栋二楼

IPC主分类号：

G01N2904

IPC分类号：

G01N2944

代理机构：

深圳新创友知识产权代理有限公司 44223

代理人：

王震宇

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-26	授权	授权
2021-08-06	公开	公开
2021-08-24	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 29/04 申请日:20210427

共 50 条

[1]

一种磁瓦内部缺陷检测方法及系统 [P].

张玲胜 .

中国专利 :CN115420772A ,2022-12-02

[2]

一种磁瓦内部检测装置及检测方法 [P].

张玲胜 ;

肖庆 ;

端荣华 .

中国专利 :CN119574576A ,2025-03-07

[3]

一种基于声发射信号的磁瓦内部缺陷检测装置及方法 [P].

黄沁元 ;

朱玉珍 ;

袁海森 ;

孙飞 ;

梁秀陈 .

中国专利 :CN120254075A ,2025-07-04

[4]

一种基于声发射信号的磁瓦内部缺陷检测装置及方法 [P].

黄沁元 ;

朱玉珍 ;

袁海森 ;

孙飞 ;

梁秀陈 .

中国专利 :CN120254075B ,2025-09-09

[5]

一种磁瓦检测装置及检测方法 [P].

朱长立 ;

宋岩 ;

冒亮建 ;

田志坚 .

中国专利 :CN111906035A ,2020-11-10

[6]

一种磁瓦检测装置及检测方法 [P].

范冬生 ;

董旭 .

中国专利 :CN112325723B ,2021-02-05

[7]

一种磁瓦缺陷检测装置 [P].

朱焱 ;

叶敏 ;

夏明芳 ;

汤伟 ;

温从众 .

中国专利 :CN223346771U ,2025-09-16

[8]

一种基于改进变分模态分解的磁瓦内部缺陷检测方法 [P].

黄沁元 ;

冉茂霞 ;

刘鑫 ;

李强 ;

周颖 ;

杨天 .

中国专利 :CN112464923B ,2021-03-09

[9]

一种硅片内部缺陷检测装置及其检测方法 [P].

王振 ;

黄海生 ;

吴国辉 .

中国专利 :CN102954967A ,2013-03-06

[10]

一种磁瓦缺陷无损检测装置及方法 [P].

唐明星 ;

胡其祥 ;

赵永贵 ;

于斌斌 ;

李元兴 ;

许元军 ;

竹坤 ;

杨滔 ;

戚伟 .

中国专利 :CN120346993A ,2025-07-22

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