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自动分析装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201080007678.2
申请日
:
2010-02-12
公开(公告)号
:
CN102317793A
公开(公告)日
:
2012-01-11
发明(设计)人
:
沙希德·萨瓦尔
田中一启
申请人
:
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
G01N3502
IPC分类号
:
G01N3510
代理机构
:
北京银龙知识产权代理有限公司 11243
代理人
:
张敬强;李家浩
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2012-01-11
公开
公开
2012-03-07
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101194114902 IPC(主分类):G01N 35/02 专利申请号:2010800076782 申请日:20100212
2014-09-10
授权
授权
共 50 条
[1]
自动分析装置
[P].
渡部道治
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渡部道治
;
佐佐木重幸
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佐佐木重幸
;
大草武德
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大草武德
;
矶岛宣之
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矶岛宣之
.
中国专利
:CN109073666A
,2018-12-21
[2]
自动分析装置
[P].
芝天夫
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芝天夫
;
田中佳幸
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田中佳幸
;
安藤学
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安藤学
;
中川寿实子
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中川寿实子
.
中国专利
:CN103293329A
,2013-09-11
[3]
自动分析装置
[P].
江藤隼
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
江藤隼
;
铃木洋一郎
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株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
铃木洋一郎
;
中岛慧
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
中岛慧
;
越智学
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
越智学
.
日本专利
:CN120712480A
,2025-09-26
[4]
自动分析装置
[P].
松冈裕哉
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
松冈裕哉
;
高田英一郎
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
高田英一郎
.
日本专利
:CN112771382B
,2024-03-22
[5]
自动分析装置
[P].
西墙宪一
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西墙宪一
;
石泽雅人
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石泽雅人
;
亘重范
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亘重范
.
中国专利
:CN101008616A
,2007-08-01
[6]
自动分析装置
[P].
垂水信二
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垂水信二
;
足立作一郎
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足立作一郎
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薮谷千枝
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薮谷千枝
;
牧野彰久
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牧野彰久
.
中国专利
:CN106133526B
,2016-11-16
[7]
自动分析装置
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和久井章人
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和久井章人
;
山崎创
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山崎创
.
中国专利
:CN103210297B
,2013-07-17
[8]
自动分析装置
[P].
福士雄大
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福士雄大
;
森高通
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森高通
.
中国专利
:CN112689764A
,2021-04-20
[9]
自动分析装置
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牧野彰久
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牧野彰久
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山崎创
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山崎创
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吉川惠子
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吉川惠子
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安藤学
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安藤学
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饭岛昌彦
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饭岛昌彦
.
中国专利
:CN104350386A
,2015-02-11
[10]
自动分析装置
[P].
平间宏美
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
平间宏美
;
泷泽光
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
泷泽光
;
川原铁士
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株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
川原铁士
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饭岛昌彦
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株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
饭岛昌彦
;
东信二
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
东信二
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日本专利
:CN117716240A
,2024-03-15
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