电源纹波干扰测试方法及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110163308.4

申请日：

2011-06-16

公开(公告)号：

CN102830296A

公开(公告)日：

2012-12-19

发明(设计)人：

陆晖

申请人：

申请人地址：

200122 上海市浦东新区崂山西路201号1605室

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

上海金盛协力知识产权代理有限公司 31242

代理人：

罗大忱

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-12-19	公开	公开
2013-02-06	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101391741636 IPC(主分类):G01R 31/00 专利申请号:2011101633084 申请日:20110616
2015-11-25	授权	授权

共 50 条

[1]

一种低频电源纹波干扰测试仪 [P].

穆晨晨 ;

袁岩兴 ;

康宁 ;

刘阳 ;

张磊 ;

王淞宇 ;

唐元贵 ;

韩玉峰 ;

齐万泉 .

中国专利 :CN111856312A ,2020-10-30

[2]

芯片内干扰测试方法和芯片内干扰测试系统 [P].

邓刘磊 ;

郭嘉帅 .

中国专利 :CN114264935A ,2022-04-01

[3]

芯片内干扰测试方法和芯片内干扰测试系统 [P].

邓刘磊 ;

郭嘉帅 .

中国专利 :CN114264935B ,2024-07-26

[4]

磁场构建装置、磁干扰测试系统及方法 [P].

吴东 .

中国专利 :CN118858830B ,2025-02-18

[5]

雷达干扰测试系统 [P].

施雪松 ;

陶路 ;

王冲 ;

陈程 ;

陈祥 .

中国专利 :CN119493089A ,2025-02-21

[6]

磁场构建装置、磁干扰测试系统及方法 [P].

吴东 .

中国专利 :CN118858830A ,2024-10-29

[7]

干扰测试 [P].

A.科斯丁斯基 ;

T.莱维 ;

P.S.切西斯 ;

D.奈格尔 ;

T.Z.谢恩博恩 ;

C.P.莫扎克 ;

N.阿布尔奈因 ;

J.M.舍哈迪 .

中国专利 :CN106030543B ,2016-10-12

[8]

纹波电压的发生方法、纹波电源电路及电源纹波测试系统 [P].

张玉斌 .

中国专利 :CN115508735B ,2025-09-02

[9]

干扰模拟系统、方法及装置、干扰测试系统、方法及装置 [P].

王敬美 ;

杨哲 ;

赵驰 ;

任超 .

中国专利 :CN112532330A ,2021-03-19

[10]

纹波电压的发生方法、纹波电源电路及电源纹波测试系统 [P].

张玉斌 .

中国专利 :CN115508735A ,2022-12-23

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