胶体金试纸卡分析仪的检测暗室

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201420365861.5
申请日
2014-07-03
公开(公告)号
CN204064887U
公开(公告)日
2014-12-31
发明(设计)人
何方洋 万宇平 张禹 罗晓琴 吴小胜 聂雯莹 刘平 刘玉梅
申请人
申请人地址
102206 北京市昌平区回龙观国际信息产业基地高新四街8号
IPC主分类号
G01N2101
IPC分类号
G01N33558
代理机构
代理人
法律状态
专利权的终止
国省代码
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共 50 条
[1]
胶体金试纸卡分析仪的检测暗室 [P]. 
何方洋 ;
万宇平 ;
张禹 ;
罗晓琴 ;
吴小胜 ;
聂雯莹 ;
刘平 ;
刘玉梅 .
中国专利 :CN105223134A ,2016-01-06
[2]
胶体金试纸卡分析仪的检测暗室 [P]. 
贾健斌 ;
靳秔 ;
张颖 ;
陈连星 ;
蒋金峰 .
中国专利 :CN105021806A ,2015-11-04
[3]
胶体金试纸卡分析仪 [P]. 
滕会来 ;
王剑 ;
石学锋 ;
卢岩 .
中国专利 :CN201740727U ,2011-02-09
[4]
胶体金试纸卡、相应的胶体金分析仪及测试方法 [P]. 
张沈平 .
中国专利 :CN103267843B ,2013-08-28
[5]
胶体金试纸条检测分析仪 [P]. 
杨淑哲 .
中国专利 :CN211785568U ,2020-10-27
[6]
胶体金试纸分析仪 [P]. 
李克生 ;
杜惠芬 ;
李强 .
中国专利 :CN305894634S ,2020-07-03
[7]
胶体金试纸分析仪 [P]. 
陈隆玉 .
中国专利 :CN204389500U ,2015-06-10
[8]
胶体金试纸分析仪 [P]. 
范明晓 ;
陈雪 ;
贺新华 ;
黄知音 .
中国专利 :CN306650142S ,2021-06-29
[9]
胶体金试纸分析仪 [P]. 
熊建梅 .
中国专利 :CN307028627S ,2021-12-24
[10]
胶体金分析仪 [P]. 
胡容 ;
张翔 .
中国专利 :CN206399951U ,2017-08-11