光偏振态测试装置及其测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010053336.X

申请日：

2020-01-17

公开(公告)号：

CN111121970A

公开(公告)日：

2020-05-08

发明(设计)人：

陈伯纶陈俊达黄达人孙宜嶙王毓仁谢怀安林怡欣

申请人：

申请人地址：

611730 四川省成都市高新区西区合作路689号

IPC主分类号：

G01J404

IPC分类号：

代理机构：

成都希盛知识产权代理有限公司 51226

代理人：

杨冬梅;张行知

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-06-02	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 4/04 申请日:20200117
2020-05-08	公开	公开

共 50 条

[1]

光偏振态测试装置及其测试方法 [P].

陈伯纶 ;

陈俊达 ;

黄达人 ;

孙宜嶙 ;

王毓仁 ;

谢怀安 ;

林怡欣 .

中国专利 :CN111220274A ,2020-06-02

[2]

光偏振态测试装置 [P].

代杰 ;

金成滨 ;

王敬轩 ;

董立超 ;

程鑫 ;

吾晓 ;

饶轶 .

中国专利 :CN115014533B ,2022-09-06

[3]

一种光偏振态测试方法 [P].

蔡燕民 .

中国专利 :CN118670524A ,2024-09-20

[4]

一种偏振光测试装置及测试方法 [P].

岳嵚 ;

叶炯明 ;

宋一郎 .

中国专利 :CN121068033A ,2025-12-05

[5]

硅光芯片测试装置及其测试方法 [P].

罗超 ;

徐凯 ;

陈庆东 .

中国专利 :CN117191358B ,2024-02-13

[6]

测试装置及其测试方法 [P].

邱耀昌 .

中国专利 :CN117953951A ,2024-04-30

[7]

测试装置及其测试方法 [P].

李远彬 ;

郭其鹏 .

中国专利 :CN114217250A ,2022-03-22

[8]

测试装置及其测试方法 [P].

熊雨凯 ;

陆欣 ;

翁世芳 ;

王飞 ;

李新华 ;

吕东生 .

中国专利 :CN102413357A ,2012-04-11

[9]

测试装置及其测试方法 [P].

林敬文 .

中国专利 :CN104636247A ,2015-05-20

[10]

测试方法及其测试装置 [P].

林轩毅 .

中国专利 :CN104251941A ,2014-12-31

← 1 2 3 4 5 →