TFT性能测试装置及其制造方法和TFT性能测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200810222370.4

申请日：

2008-09-17

公开(公告)号：

CN101677094A

公开(公告)日：

2010-03-24

发明(设计)人：

于洪俊黄婕妤肖光辉吴昊

申请人：

申请人地址：

100176北京市经济技术开发区西环中路8号

IPC主分类号：

H01L23544

IPC分类号：

H01L2100 H01L2166

代理机构：

北京同立钧成知识产权代理有限公司

代理人：

刘芳

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2010-03-24	公开	公开
2021-08-27	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 23/544 申请日:20080917 授权公告日:20110629 终止日期:20200917
2011-06-29	授权	授权
2010-05-05	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101001462876 IPC(主分类):H01L 23/544 专利申请号:2008102223704 申请日:20080917
2014-12-24	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101709029152 IPC(主分类):H01L 23/544 专利号:ZL2008102223704 变更事项:专利权人变更前权利人:北京京东方光电科技有限公司变更后权利人:京东方科技集团股份有限公司变更事项:地址变更前权利人:100176 北京市经济技术开发区西环中路8号变更后权利人:100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号变更事项:专利权人变更前权利人:无变更后权利人:北京京东方光电科技有限公司登记生效日:20141204

共 50 条

[1]

一种TFT-LCD温度性能测试装置 [P].

甘彩旺 .

中国专利 :CN212846218U ,2021-03-30

[2]

网络性能测试装置和方法 [P].

陈土福 .

中国专利 :CN112929920A ,2021-06-08

[3]

屏体性能测试装置和屏体性能测试方法 [P].

王守坤 ;

秦韶阳 ;

刘达 .

中国专利 :CN113433352A ,2021-09-24

[4]

电池性能测试方法及电池性能测试装置 [P].

阎全忠 ;

李洁辰 .

中国专利 :CN114740380A ,2022-07-12

[5]

保持器、性能测试装置及性能测试方法 [P].

金田匡规 ;

中川胜 ;

鸿野晃洋 .

中国专利 :CN102012335A ,2011-04-13

[6]

弯折性能测试装置及弯折性能测试方法 [P].

方克伟 ;

王颖 ;

刘东亮 ;

崔永谋 ;

王志勇 .

中国专利 :CN110873667A ,2020-03-10

[7]

弯折性能测试装置及弯折性能测试方法 [P].

方克伟 ;

王颖 ;

刘东亮 ;

崔永谋 ;

王志勇 .

中国专利 :CN110873667B ,2024-08-13

[8]

泡沫性能测试方法和测试装置 [P].

何集宝 ;

侯海燕 ;

李集周 ;

张清丰 ;

欧博明 ;

阮永忠 ;

胡建 .

中国专利 :CN102087259B ,2011-06-08

[9]

TV性能测试装置及其测试方法 [P].

杜容彬 ;

刘军 ;

张雷 .

中国专利 :CN104902270A ,2015-09-09

[10]

滑轨性能测试装置及其测试方法 [P].

王庆云 .

中国专利 :CN105403391A ,2016-03-16

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