一种光谱发射率测量装置及表面温度测量方法

被引：0

申请号：

CN202111563838.8

申请日：

2021-12-20

公开(公告)号：

CN114509165A

公开(公告)日：

2022-05-17

发明(设计)人：

张学聪温悦蔡静张岚李丹高一凡

申请人：

申请人地址：

100095 北京市海淀区温泉镇环山村

IPC主分类号：

G01J500

IPC分类号：

G01J328

代理机构：

北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙) 11639

代理人：

张利萍

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-17	公开	公开
2022-06-03	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 5/00 申请日:20211220

共 50 条

[1]

一种光谱发射率测量装置及表面温度测量方法 [P].

张学聪 ;

温悦 ;

蔡静 ;

张岚 ;

李丹 ;

高一凡 .

中国专利 :CN114509165B ,2024-04-19

[2]

表面温度和发射率的测量装置和测量方法 [P].

谢植 ;

车勋建 ;

谢淇先 ;

王立忠 .

中国专利 :CN108240865B ,2024-03-29

[3]

表面温度和发射率的测量装置和测量方法 [P].

谢植 ;

车勋建 ;

谢淇先 ;

王立忠 .

中国专利 :CN108240865A ,2018-07-03

[4]

表面温度测量装置以及表面温度测量方法 [P].

植松千寻 ;

若洲丰 ;

本田达朗 .

中国专利 :CN104583739A ,2015-04-29

[5]

表面温度和发射率的测量装置 [P].

谢植 ;

车勋建 ;

谢淇先 ;

王立忠 .

中国专利 :CN206330670U ,2017-07-14

[6]

多功能光谱发射率测量装置及其测量方法 [P].

于坤 ;

刘栋 ;

刘玉芳 ;

李龙飞 ;

张飞麟 ;

张凯华 .

中国专利 :CN106404181B ,2017-02-15

[7]

表面发射率测量方法、系统、列车 [P].

张金煜 ;

窦晓亮 ;

战申 ;

李明洋 ;

谷朝健 .

中国专利 :CN120274890A ,2025-07-08

[8]

热图像的平滑化方法、表面温度测量方法及表面温度测量装置 [P].

关显人 .

中国专利 :CN103459997A ,2013-12-18

[9]

材料表面发射率测量装置 [P].

赵雨晨 ;

张恒成 ;

沈福至 ;

黄子淳 ;

李来风 .

中国专利 :CN220568657U ,2024-03-08

[10]

材料表面发射率测量装置 [P].

赵雨晨 ;

张恒成 ;

沈福至 ;

黄子淳 ;

李来风 .

中国专利 :CN119354924A ,2025-01-24

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