设备控制系统测试方法、装置、电子设备和存储介质

被引：0

申请号：

CN202211002654.9

申请日：

2022-08-22

公开(公告)号：

CN115113613B

公开(公告)日：

2022-09-27

发明(设计)人：

阮正华兰丽丽

申请人：

申请人地址：

226400 江苏省南通市如东县掘港街道金山路1号

IPC主分类号：

G05B2302

IPC分类号：

代理机构：

北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463

代理人：

何明伦

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-27	公开	公开
2022-11-22	授权	授权

共 50 条

[1]

设备控制系统、方法、电子设备和存储介质 [P].

范嘉俊 ;

韦雨晨 ;

钟要齐 .

中国专利 :CN112704568A ,2021-04-27

[2]

设备控制系统、方法、装置、电子设备、存储介质 [P].

温都日呼 ;

邵广玉 ;

李文娟 ;

王洪 .

中国专利 :CN114326501A ,2022-04-12

[3]

设备控制系统、方法、装置、电子设备、存储介质 [P].

田春虎 ;

李文娟 ;

邵广玉 ;

王洪 .

中国专利 :CN114296359A ,2022-04-08

[4]

设备控制系统、方法、电子设备及存储介质 [P].

孙亮亮 ;

李阔 ;

沈军 ;

杨春晖 .

中国专利 :CN115379171A ,2022-11-22

[5]

无人车控制系统测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘洋 ;

柴嘉峰 ;

梁元波 .

中国专利 :CN115097803A ,2022-09-23

[6]

设备测试方法、装置、系统、电子设备和存储介质 [P].

彭炜 .

中国专利 :CN119669058A ,2025-03-21

[7]

设备测试方法、装置、电子设备、系统和存储介质 [P].

窦殿松 .

中国专利 :CN113505687A ,2021-10-15

[8]

设备测试方法、装置、电子设备、系统和存储介质 [P].

窦殿松 .

中国专利 :CN113505687B ,2024-08-09

[9]

半导体设备参数测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

阮正华 ;

孙文彬 .

中国专利 :CN115543855A ,2022-12-30

[10]

照明控制系统、方法、电子设备和存储介质 [P].

郑二洋 ;

白兴国 .

中国专利 :CN113453410A ,2021-09-28

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