测试非易失性存储设备的方法

被引：0

申请号：

CN202210044461.3

申请日：

2022-01-14

公开(公告)号：

CN115331725A

公开(公告)日：

2022-11-11

发明(设计)人：

金承范姜奎满

申请人：

申请人地址：

韩国京畿道

IPC主分类号：

G11C2956

IPC分类号：

代理机构：

北京市立方律师事务所 11330

代理人：

李娜;赵莎

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-11	公开	公开

共 50 条

[1]

测试非易失性存储设备的方法 [P].

车载元 ;

金德柱 .

中国专利 :CN101533673A ,2009-09-16

[2]

非易失性存储元件、非易失性存储装置、非易失性半导体装置和非易失性存储元件的制造方法 [P].

藤井觉 ;

有田浩二 ;

三谷觉 ;

三河巧 .

中国专利 :CN102292814A ,2011-12-21

[3]

非易失性存储元件及其制造方法、以及非易失性存储装置 [P].

高木刚 .

中国专利 :CN102648522B ,2012-08-22

[4]

非易失性存储设备 [P].

西泽裕孝 ;

石原晴次 ;

汤川洋介 ;

白石敦 .

中国专利 :CN1933012A ,2007-03-21

[5]

非易失性存储设备 [P].

李光振 ;

郭忠根 ;

金杜应 .

中国专利 :CN102496387A ,2012-06-13

[6]

非易失性存储设备 [P].

穗谷克彦 .

中国专利 :CN115050408A ,2022-09-13

[7]

非易失性存储设备 [P].

郑凤吉 ;

金炯坤 .

中国专利 :CN107102817B ,2021-10-22

[8]

非易失性存储设备 [P].

朴成济 .

中国专利 :CN101794617A ,2010-08-04

[9]

非易失性存储装置和包括其的非易失性存储系统 [P].

黄喆珍 ;

郭判硕 ;

咸锡准 .

中国专利 :CN106469729A ,2017-03-01

[10]

非易失性存储装置 [P].

小林正治 ;

李卓 ;

平本俊郎 .

日本专利 :CN119096714A ,2024-12-06

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