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辐照强度分布的测量设备以及测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN200880002943.0
申请日
:
2008-01-15
公开(公告)号
:
CN101589343B
公开(公告)日
:
2009-11-25
发明(设计)人
:
罗尔夫·弗赖曼
申请人
:
申请人地址
:
德国上科亨
IPC主分类号
:
G03F720
IPC分类号
:
代理机构
:
北京市柳沈律师事务所 11105
代理人
:
邱军
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2009-11-25
公开
公开
2010-01-27
实质审查的生效
实质审查的生效
2020-12-25
专利权的终止
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G03F 7/20 申请日:20080115 授权公告日:20130619 终止日期:20200115
2013-06-19
授权
授权
共 50 条
[1]
光强度分布测量方法及光强度分布测量装置
[P].
酒井博
论文数:
0
引用数:
0
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0
酒井博
.
中国专利
:CN1510663A
,2004-07-07
[2]
粉尘浓度的测量系统、测量设备以及测量方法
[P].
刘斌
论文数:
0
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机构:
东旭科技集团有限公司
东旭科技集团有限公司
刘斌
;
闫冬成
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机构:
东旭科技集团有限公司
东旭科技集团有限公司
闫冬成
;
刘绍山
论文数:
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机构:
东旭科技集团有限公司
东旭科技集团有限公司
刘绍山
;
栾鑫
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0
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机构:
东旭科技集团有限公司
东旭科技集团有限公司
栾鑫
;
刘奎宁
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
东旭科技集团有限公司
东旭科技集团有限公司
刘奎宁
.
中国专利
:CN119534249A
,2025-02-28
[3]
墙面测量设备以及墙面测量方法
[P].
谭军
论文数:
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0
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谭军
;
高强
论文数:
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0
高强
.
中国专利
:CN112539739A
,2021-03-23
[4]
光学测量方法以及光学测量设备
[P].
K·克莱恩
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K·克莱恩
;
P·弗里兹
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P·弗里兹
;
A·安达姆森
论文数:
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0
A·安达姆森
.
中国专利
:CN112368543A
,2021-02-12
[5]
静电分布测量装置以及静电分布测量方法
[P].
菊永和也
论文数:
0
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菊永和也
;
野中一洋
论文数:
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野中一洋
.
中国专利
:CN105431744A
,2016-03-23
[6]
折射率分布测量方法和折射率分布测量设备
[P].
加藤正磨
论文数:
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0
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加藤正磨
.
中国专利
:CN102297758A
,2011-12-28
[7]
距离测量方法、介质以及测量距离的设备
[P].
姜柄敏
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姜柄敏
;
李基彰
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李基彰
.
中国专利
:CN101382594B
,2009-03-11
[8]
光强分布的测量方法
[P].
姜开利
论文数:
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姜开利
;
朱钧
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朱钧
;
冯辰
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冯辰
;
范守善
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范守善
.
中国专利
:CN103487140A
,2014-01-01
[9]
测量设备、测量系统、测量方法以及设置有测量设备的电子装置
[P].
日高秀树
论文数:
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0
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日高秀树
.
中国专利
:CN106068096A
,2016-11-02
[10]
测量设备、测量方法
[P].
佐藤英雄
论文数:
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佐藤英雄
.
中国专利
:CN103987316B
,2014-08-13
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