重力下滑式集成电路测试分选机的步进分料装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200820047472.2

申请日：

2008-05-08

公开(公告)号：

CN201249183Y

公开(公告)日：

2009-06-03

发明(设计)人：

张华王晓军陈滔

申请人：

申请人地址：

510000广东省广州市天河区中山大道276号天河广场20F室

IPC主分类号：

B07C536

IPC分类号：

B65G4726 B65G4788

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法律状态：

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国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-06-03	授权	授权
2013-06-26	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101480922773 IPC(主分类):B07C 5/36 专利号:ZL2008200474722 申请日:20080508 授权公告日:20090603 终止日期:20120508

共 50 条

[1]

集成电路四测位重力式测试分选机 [P].

王晓军 ;

陈滔 ;

张华 ;

刘义 .

中国专利 :CN201586639U ,2010-09-22

[2]

集成电路芯片模块测试分选机（重力式） [P].

吴成君 ;

张民贵 ;

吕鹏飞 .

中国专利 :CN308885535S ,2024-10-15

[3]

集成电路四工位测试分选机（重力式） [P].

吴成君 ;

林强 .

中国专利 :CN306648370S ,2021-06-29

[4]

集成电路测试分选机料管定位装置 [P].

吴成君 ;

张民贵 .

中国专利 :CN215031220U ,2021-12-07

[5]

集成电路测试分选机分类装置 [P].

吴成君 ;

林强 .

中国专利 :CN214638297U ,2021-11-09

[6]

集成电路芯片双工位测试分选机（重力式） [P].

吴成君 ;

刘烽 ;

张远斌 .

中国专利 :CN307337912S ,2022-05-13

[7]

集成电路测试分选机 [P].

班华 ;

王晓军 ;

陈涛 .

中国专利 :CN2788907Y ,2006-06-21

[8]

一种集成电路测试分选机的分粒机构 [P].

韩笑 .

中国专利 :CN202037129U ,2011-11-16

[9]

集成电路测试分选机送料分粒装置及控制方法 [P].

吴成君 ;

林强 .

中国专利 :CN112642737A ,2021-04-13

[10]

集成电路测试分选机防芯片洒料装置 [P].

吴成君 ;

林强 .

中国专利 :CN215031218U ,2021-12-07

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