测定装置以及测定方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710199730.2

申请日：

2017-03-30

公开(公告)号：

CN107561298A

公开(公告)日：

2018-01-09

发明(设计)人：

藤原崇雄堀井和由古佐小达也能勢智之友田小百合

申请人：

申请人地址：

日本兵库县

IPC主分类号：

G01N3500

IPC分类号：

G01N3510

代理机构：

中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038

代理人：

李今子

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-02-02	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 35/00 申请日:20170330
2018-01-09	公开	公开
2020-05-05	授权	授权

共 50 条

[1]

光测定方法以及光测定装置 [P].

山田刚 .

日本专利 :CN118056122A ,2024-05-17

[2]

信号波形测定装置以及测定方法 [P].

藤原弘康 ;

川添忠 ;

大津元一 .

中国专利 :CN101957239A ,2011-01-26

[3]

测定装置以及测定装置的测定方法 [P].

大野祥希 .

日本专利 :CN119986675A ,2025-05-13

[4]

测定装置以及测定方法 [P].

松下友纪 .

中国专利 :CN113551591A ,2021-10-26

[5]

测定装置以及测定方法 [P].

高须良三 .

中国专利 :CN110573856B ,2019-12-13

[6]

测定方法以及测定装置 [P].

西田信幸 .

中国专利 :CN104515497A ,2015-04-15

[7]

测定装置以及测定方法 [P].

根武谷吾 .

日本专利 :CN116490125B ,2025-09-16

[8]

测定装置以及测定方法 [P].

增田浩二 .

日本专利 :CN120558958A ,2025-08-29

[9]

测定装置以及测定方法 [P].

冈田修平 .

日本专利 :CN118159830A ,2024-06-07

[10]

测定装置以及测定方法 [P].

村上健二 ;

伊藤直树 .

日本专利 :CN118937775A ,2024-11-12

← 1 2 3 4 5 →