硅钢片双面层间电阻测量装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200620097769.0

申请日：

2006-07-13

公开(公告)号：

CN2921844Y

公开(公告)日：

2007-07-11

发明(设计)人：

俞良冰邱忆亓福荣刘明莆郝亚非邹玉钢周知汪新亚

申请人：

申请人地址：

430083湖北省武汉市青山区厂前

IPC主分类号：

G01R2702

IPC分类号：

代理机构：

湖北武汉永嘉专利代理有限公司

代理人：

钟锋

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-09-03	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101586665440 IPC(主分类):G01R 27/02 专利号:ZL2006200977690 申请日:20060713 授权公告日:20070711 终止日期:20130713
2007-07-11	授权	授权

共 50 条

[1]

硅钢片层间电阻、叠装系数联合测量装置 [P].

俞良冰 ;

邱忆 ;

亓福荣 ;

刘明莆 ;

郝亚非 ;

邹玉钢 ;

周知 ;

李子安 ;

汪新亚 .

中国专利 :CN2884213Y ,2007-03-28

[2]

硅钢片叠厚测量装置 [P].

熊臣东 ;

王凯 .

中国专利 :CN202267459U ,2012-06-06

[3]

一种硅钢片测量装置 [P].

何健 .

中国专利 :CN222211582U ,2024-12-20

[4]

陆凯勋 ;

徐国龙 .

中国专利 :CN202549526U ,2012-11-21

[5]

硅钢片绝缘电阻测量仪 [P].

胡特 ;

曾晔 ;

代蓉 ;

王争光 ;

秦湘平 .

中国专利 :CN120121900A ,2025-06-10

[6]

陈世雄 .

中国专利 :CN2658433Y ,2004-11-24

[7]

硅钢片层间电阻双层叠加测试装置 [P].

胡志远 ;

沈杰 ;

周星 ;

李平 .

中国专利 :CN102650672B ,2012-08-29

[8]

硅钢层间电阻测量装置 [P].

张关来 ;

张赛平 .

中国专利 :CN205484562U ,2016-08-17

[9]

一种硅钢片厚度测量装置 [P].

赵军 ;

李林峰 ;

孔明 ;

郭天太 ;

王道档 ;

刘维 ;

单良 .

中国专利 :CN203605913U ,2014-05-21

[10]

硅钢片传输装置 [P].

王国鹏 ;

王习华 .

中国专利 :CN208716501U ,2019-04-09

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