辐射焦点位置检测方法、辐射检测设备和辐射断层成像设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310628431.8

申请日：

2013-11-29

公开(公告)号：

CN103852777A

公开(公告)日：

2014-06-11

发明(设计)人：

H.库罗基 I.阿布德拉茨

申请人：

申请人地址：

美国纽约州

IPC主分类号：

G01T100

IPC分类号：

G01T102 A61B603

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司 72001

代理人：

叶晓勇;汤春龙

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-06-11	公开	公开
2018-01-09	授权	授权
2015-11-04	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101631743726 IPC(主分类):G01T 1/00 专利申请号:2013106284318 申请日:20131129

共 50 条

[1]

辐射检测设备和辐射断层成像设备 [P].

能势胜正 .

中国专利 :CN106413561B ,2017-02-15

[2]

辐射检测设备和辐射成像设备 [P].

加藤舞 .

中国专利 :CN103654825A ,2014-03-26

[3]

辐射检测器及其断层扫描成像设备和辐射检测设备 [P].

赵敏局 .

中国专利 :CN106104302B ,2016-11-09

[4]

辐射检测设备、辐射成像设备和辐射成像系统 [P].

渡边实 ;

望月千织 ;

野村庆一 ;

石井孝昌 .

中国专利 :CN1925162A ,2007-03-07

[5]

辐射断层成像设备 [P].

乡野诚 .

中国专利 :CN100361631C ,2005-03-16

[6]

辐射检测设备和辐射图像捕捉系统 [P].

西纳直行 ;

大田恭义 ;

濑户康宏 ;

坪田圭司 ;

吉田丰 ;

鬼头英一 ;

今井真二 .

中国专利 :CN101711680A ,2010-05-26

[7]

辐射检测设备和辐射检测系统 [P].

石田阳平 ;

冈田聪 ;

长野和美 ;

野村庆一 ;

市村知昭 ;

佐佐木庆人 .

中国专利 :CN103370637A ,2013-10-23

[8]

辐射检测设备和方法 [P].

T·弗兰克 ;

V·佩斯科夫 .

中国专利 :CN1433520A ,2003-07-30

[9]

检测器模块和辐射成像设备 [P].

吉田大 ;

森武正浩 ;

别所浩治 .

中国专利 :CN102727226A ,2012-10-17

[10]

辐射检测器和辐射检测方法 [P].

高桥宏平 ;

菅野勉 ;

酒井章裕 ;

足立秀明 .

中国专利 :CN102084510B ,2011-06-01

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