集成芯片裂纹检测装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201721603294.2

申请日：

2017-11-27

公开(公告)号：

CN208043698U

公开(公告)日：

2018-11-02

发明(设计)人：

许颖陈锐柳成荫黄俊文罗聪聪

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区西丽镇深圳大学城哈工大校区

IPC主分类号：

G01N2195

IPC分类号：

代理机构：

深圳市添源知识产权代理事务所(普通合伙) 44451

代理人：

黎健任

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-11-02	授权	授权

共 50 条

[1]

集成芯片裂纹检测装置及方法 [P].

许颖 ;

陈锐 ;

柳成荫 ;

黄俊文 ;

罗聪聪 .

中国专利 :CN107796827A ,2018-03-13

[2]

集成芯片检测装置 [P].

高化伟 ;

刘秀锋 ;

吴文通 .

中国专利 :CN210199255U ,2020-03-27

[3]

集成芯片故障检测装置 [P].

王小雨 ;

苏娜 ;

刘宁 .

中国专利 :CN206725713U ,2017-12-08

[4]

裂纹检测装置 [P].

胡智维 ;

林仰聪 ;

刘皓元 ;

谢真成 ;

黄国强 ;

范文博 ;

周伟涛 ;

陈剑峰 ;

关文锦 ;

黄波 .

中国专利 :CN223538830U ,2025-11-11

[5]

裂纹检测装置 [P].

王威淳 ;

于涛 ;

郜普浩 ;

朱健伟 .

中国专利 :CN223192810U ,2025-08-05

[6]

裂纹检测装置 [P].

石巨鹏 .

中国专利 :CN217542870U ,2022-10-04

[7]

一种集成芯片检测装置 [P].

徐蕉 ;

卢宇航 ;

陈晨 ;

张珊珊 ;

杨旻睿 ;

饶婧 .

中国专利 :CN222220358U ,2024-12-24

[8]

半导体芯片的边缘裂纹检测装置及其方法 [P].

朴山河 .

中国专利 :CN113782459B ,2024-05-28

[9]

电杆裂纹检测装置 [P].

杨伟东 ;

李亮 ;

丛培军 ;

李喆 ;

于永刚 ;

秦飞 .

中国专利 :CN208921063U ,2019-05-31

[10]

座圈裂纹检测装置 [P].

丁凯 .

中国专利 :CN208350603U ,2019-01-08

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