一种射线测量仪

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210059993.0

申请日：

2012-03-08

公开(公告)号：

CN102608645B

公开(公告)日：

2012-07-25

发明(设计)人：

左建国何惠珍

申请人：

申请人地址：

400033 重庆市沙坪坝区半边街2号

IPC主分类号：

G01T116

IPC分类号：

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

逯长明

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-04-27	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101658322895 IPC(主分类):G01T 1/16 专利号:ZL2012100599930 申请日:20120308 授权公告日:20140326 终止日期:20150308
2012-09-26	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101328721567 IPC(主分类):G01T 1/16 专利申请号:2012100599930 申请日:20120308
2014-03-26	授权	授权
2012-07-25	公开	公开

共 50 条

[1]

α、β射线测量仪 [P].

潘仲涛 ;

高美丽 ;

赵海泉 ;

赵建中 ;

王万祥 ;

赵涛 ;

帅华 .

中国专利 :CN202421507U ,2012-09-05

[2]

一种用于射线测量仪的暗盒 [P].

左建国 ;

何惠珍 .

中国专利 :CN202486329U ,2012-10-10

[3]

一种测量射线剂量的射线测量仪 [P].

刘长福 ;

赵纪峰 ;

董国振 .

中国专利 :CN203101651U ,2013-07-31

[4]

一种测量射线剂量的射线测量仪 [P].

刘长福 ;

赵纪峰 ;

董国振 .

中国专利 :CN103163545B ,2013-06-19

[5]

一种杆塔射线测量仪 [P].

王树军 ;

刘健 ;

刘树清 ;

赵国良 ;

刘明辉 ;

徐硕 ;

鲁杰 ;

安然 ;

史广斌 ;

刘居辉 ;

王春明 ;

刘富文 .

中国专利 :CN206281920U ,2017-06-27

[6]

一种射线薄膜测量仪 [P].

李军 ;

周斌 ;

黄午龙 .

中国专利 :CN221840376U ,2024-10-15

[7]

一种便携式表面射线污染测量仪 [P].

赵鑫 .

中国专利 :CN214795220U ,2021-11-19

[8]

X射线凸度测量仪 [P].

杨双成 ;

李献国 ;

邹凯 .

中国专利 :CN1962102A ,2007-05-16

[9]

放射线测量仪 [P].

久间裕丈 ;

安部繁 .

中国专利 :CN303346358S ,2015-08-26

[10]

测量仪(电子镭射线) [P].

施百可 .

中国专利 :CN300781205D ,2008-05-21

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