X荧光分析仪(3)

被引:0
专利类型
外观设计
申请号
CN201230633366.4
申请日
2012-12-17
公开(公告)号
CN302422436S
公开(公告)日
2013-05-01
发明(设计)人
陶银武
申请人
申请人地址
211102 江苏省南京市江宁区清水亭西路2号百家湖科技产业园B区16-2
IPC主分类号
1005
IPC分类号
代理机构
南京纵横知识产权代理有限公司 32224
代理人
于文军
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
X荧光分析仪(2) [P]. 
陶银武 .
中国专利 :CN302422434S ,2013-05-01
[2]
X荧光分析仪(1) [P]. 
陶银武 .
中国专利 :CN302422433S ,2013-05-01
[3]
X荧光分析仪 [P]. 
周偃 ;
苏建平 ;
郭晓明 .
中国专利 :CN201373857Y ,2009-12-30
[4]
X荧光分析仪 [P]. 
杨品辉 .
中国专利 :CN301122319D ,2010-01-27
[5]
石油X荧光分析仪 [P]. 
朱根庆 ;
刘光季 ;
李春山 ;
朱直箐 ;
肖志 ;
孙冰涛 .
中国专利 :CN202047820U ,2011-11-23
[6]
荧光分析仪 [P]. 
佘战新 ;
张慧 .
中国专利 :CN309534962S ,2025-10-10
[7]
双窗口X荧光分析仪 [P]. 
郑素华 .
中国专利 :CN206387748U ,2017-08-08
[8]
双窗口X荧光分析仪 [P]. 
郑素华 .
中国专利 :CN106370681A ,2017-02-01
[9]
X荧光分析仪(SDXRF1000型) [P]. 
李志锐 ;
张明庆 ;
孙圣君 .
中国专利 :CN309367339S ,2025-07-04
[10]
X射线荧光分析仪 [P]. 
朴正权 .
中国专利 :CN113950621A ,2022-01-18