一种Mini/MicroLED常温老化测试仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202020015782.7

申请日：

2020-01-06

公开(公告)号：

CN211786018U

公开(公告)日：

2020-10-27

发明(设计)人：

张凯

申请人：

申请人地址：

523000 广东省东莞市塘厦镇四村高科工业二路4号2号楼202室

IPC主分类号：

G01R3144

IPC分类号：

G01R102

代理机构：

东莞技创百科知识产权代理事务所(普通合伙) 44608

代理人：

邱凯

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-10-27	授权	授权

共 50 条

[1]

一种电缆老化测试仪 [P].

居来提·阿不力孜 ;

刘刚 ;

李超 ;

王明 ;

艾尼·哈巴尔 ;

缪刚 ;

陈疆 ;

胡健民 ;

李洁 ;

赵超阳 ;

王亮 ;

赵彦辉 ;

马新哲 ;

董文韬 .

中国专利 :CN218383084U ,2023-01-24

[2]

LED老化测试仪 [P].

胡清辉 ;

高芬 ;

胡建 ;

柏云 ;

杨明周 .

中国专利 :CN205176074U ,2016-04-20

[3]

一种高温老化测试仪 [P].

何宏 ;

李志雄 ;

庞卫文 .

中国专利 :CN202217020U ,2012-05-09

[4]

LED老化测试仪 [P].

胡清辉 ;

高芬 ;

胡建 ;

柏云 ;

杨明周 .

中国专利 :CN205246708U ,2016-05-18

[5]

LED老化测试仪 [P].

胡清辉 ;

高芬 ;

胡建 ;

柏云 ;

杨明周 .

中国专利 :CN205426966U ,2016-08-03

[6]

一种LED老化测试仪 [P].

李俊武 ;

吴泽恩 ;

钟旺 ;

任正伟 ;

邹中林 .

中国专利 :CN206057536U ,2017-03-29

[7]

一种电池老化测试仪 [P].

黄少斌 ;

林怀 ;

陈先樑 ;

陈雄文 .

中国专利 :CN204536508U ,2015-08-05

[8]

一种硒鼓老化测试仪 [P].

苏春开 .

中国专利 :CN216349529U ,2022-04-19

[9]

一种老化测试仪电路结构 [P].

苏永东 .

中国专利 :CN215910571U ,2022-02-25

[10]

一种电机的老化测试仪 [P].

王涛 ;

丁力 .

中国专利 :CN210376616U ,2020-04-21

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