光电元件测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201821308898.9

申请日：

2018-08-13

公开(公告)号：

CN208969180U

公开(公告)日：

2019-06-11

发明(设计)人：

庄礼杰杨强

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市宝安区留仙二路中粮商务公园2栋1503

IPC主分类号：

G01R3101

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287

代理人：

胡海国

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-06-11	授权	授权

共 50 条

[1]

光电元件测试系统及方法 [P].

庄礼杰 ;

杨强 .

中国专利 :CN108828383A ,2018-11-16

[2]

光电元件测试系统 [P].

彭水良 .

中国专利 :CN112730914A ,2021-04-30

[3]

光电元件测试系统 [P].

彭水良 .

中国专利 :CN215218878U ,2021-12-17

[4]

一种光电测试模组及光电测试系统 [P].

龙婧 ;

刘广元 ;

王荣 ;

谭信辉 .

中国专利 :CN216622579U ,2022-05-27

[5]

光电元件 [P].

林铭泉 ;

陈仁全 .

中国专利 :CN201160077Y ,2008-12-03

[6]

主板测试元件和主板测试系统 [P].

黄美红 ;

李鹏 .

中国专利 :CN203786260U ,2014-08-20

[7]

光电探测模块及测试系统 [P].

金开涛 ;

周丕森 ;

孙全辉 .

中国专利 :CN223053032U ,2025-07-01

[8]

光电元件 [P].

谢明勋 ;

王健源 ;

姚久琳 ;

林锦源 .

中国专利 :CN101931034B ,2010-12-29

[9]

光电元件 [P].

神户伸吾 ;

关口隆史 ;

山木健之 ;

矢口充雄 ;

西出宏之 ;

小柳津研一 ;

加藤文昭 ;

铃鹿理生 .

中国专利 :CN102792515B ,2012-11-21

[10]

光电元件 [P].

盐崎笃志 ;

杉山秀一郎 .

中国专利 :CN1501514A ,2004-06-02

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